HG/T 3241-2007 电脑内孔膜层测厚仪

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ICS 71.120:25.040.40:17.040.30
G97    HG
备案号:22242一2008
中华人民共和国化工行业标准
HG/T3241-2007代替HG/T3241一1989
电脑内孔膜层测厚仪
Micro-computer thickness tester for inner hole coating
2007-09-22发布      2008-04-01实施
中华人民共和国国家发展和改革委员会发布

HG/T 3241-2007,测厚仪,电脑内孔膜层,HG/T 3241-2007 电脑内孔膜层测厚仪

前言
本标准代替HG/T3241一1989《内孔涂层测厚仪技术条件》。
本标准与HG/T·3241-1989相比主要变化如下:
测量范围由原来的164m~500m,修订为5μm~500μm,管内深度提高到1000mm;
取消了交流供电,采用电池供电。
本标准由中国石油和化学工业协会提出。
本标准由化学工业专用仪器仪表标准化技术委员会归口。
本标准起草单位:山东省济宁市超声电子仪器厂、天华化工机械及自动化研究设计院。
本标准主要起草人:刘连福、沙庆谦、张俊科。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
HG/T3241-1989(ZB/TN72023-1989)。

内容摘要:

电脑内孔膜层测厚仪
1范围
本标准规定了电池供电的电脑内孔膜层测厚仪(以下简称测厚仪)的型式、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存等内容。
本标准适用于根据电磁感应(磁阻法)原理对以磁性材料(钢铁)为基体的内孔膜层厚度进行测量的测厚仪。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修改版均不适用于本标准。然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T15464    仪器仪表包装通用技术条件
GB9969.1     工业产品使用说明书   总则
JB/T9329   仪器仪表运输、运输贮存基本环境条件及试验方法
3术语
下列术语和定义适用于本标准。
3.1基体basal object
没有覆盖层的磁性金属光体。
3.2有效测量范围valid measure scope
能满足基本误差极限要求的那部分测量范围。
4 命名与基本参数
(略)
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