SJ/Z 21581-2020 固体继电器统计过程控制技术实施指南

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中 华 人 民 共 和 国 电 子 行 业 标 准

SJ/Z 21581-2020

固体继电器统计过程控制技术实施指南

Guide for statistical process control technique implementation of solid state relays

2020-08-01实施    2020-06-03发布

国家国防科技工业局    发布

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本指导性技术文件的附录A、附录B、附录C和附录D为资料性附录。

本指导性技术文件由工业和信息化部电子第四研究院提出并归口。

1范围

本指导性技术文件按照统计过程控制(SPC)的实施要求,基于固体继电器制造过程的特点,规定了固体继电器制造过程实施SPC技术的方法、主要步骤和相关技术的应用。本指导性技术文件适用于固体继电器制造过程实施SPC。

2 规范性引用文件

下列文件中的条款通过大道事性技术文件的引用而成为本指守的及术文件的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修交。(不包含勘误的内容)或修订版均不适用手本指马性技术文件,然而,鼓励根据本指导性技术文存达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新个)凡是不注日期的引用文件,其最新版木适周了不指导性技术实传

GB/T 409/ 制图

GJB 548微电子器件试深

GJB 155人圆休链电器就用 见范

GJB30(4C7元器件

4.1 SPC体系

实施SPC首先 B3014的要求,建立SPC体系,并纳入质量保大细划.

4.2 SPC实施方案对于实施SPC生产线,应制定至少包括下述内容并且具有可探作忙的家施方案细则。

a)确定关键过程节息和监控参数的名称:按照第5章描述的原明和务,确定实施SPC的关键过程节点与监控参数

b)确定监控参数数据来集方梁: 16 原则相方法确定数据采集方案,可参照附录A和附录B,并评价测量仪器是否满足数据采集要求。

数据采集方案至少包括下述内容:

1)数据采集方式和频次。

2)数据批次的组成、每批包括的数据个数。

3)关于“异常数据”的剔除程序和原则。

4)测量仪器的选用与评价,包括选用的测量仪器名称和型号,对测量仪器采取的“计量”保证条款,以及评价仪器“准确度”、“分辨率”和“精密度”的方法。

c)控制图的正确选用:按照第9章描述的原则,根据监控参数数据的特点,确定采用哪种控制图分析关键过程节点的统计受控状态。如果控制图选用不当,将可能导致对统计受控状态的错误判断结论。

d)工序能力指数(Cpk)评价方法:按照第8章描述的原则,参考附录C中的计算方法,说明监控参数的规范要求、Cpk的计算方法以及提高Cpk的途径等。

e)失控问题分析:参照9.3、9.4说明依据哪几条规则判断关键过程节点的“受控/失控”状态,并说明在出现“失控”的情况下,采取何种适当的方法和工具查找原因、解决问题、恢复关键过程节点的“受控”状态。

5.1概述

实施SPC是以监控参数为对象,评价关键过程节点的统计受控状态。实施SPC的第一步工作是针对制造过程特点,确定关键过程节点与监控参数。至少应包含以下几个实施要点:

a)绘制工艺流程图;

b)确定关键过程节点;

c)确定监控参数;

d)确定监控参数的数据采集方案。

5.2.1绘制目的

绘制工艺流程图的主要目的是为了分析、确定生产过程中影响产品质量可靠性的关键过程节点。

5.2.2典型工艺流程图示例

针对固体继电器制造过程中包括的生产工序和加工顺序,绘制包含生产全过程的工艺流程图,具体细化程度可根据其对产品质量影响程度的重要性来确定。随着工艺技术的进步,工艺流程会随之发生变化。应根据生产线的具体情况,绘制实际采用的工艺流程图。

固体继电器生产线较为典型的工艺流程示例见图1。

前言………………………………………………………………………………Ⅲ

1范围…………………………………………………………………………………1

2规范性引用文件…………………………………………………………………………1

3术语与定义………………………………………………………………………1

4 SPC体系与SPC实施方案…D…IN…………………………………………1

5关键过程节点与监控参数的确定原则……………………………………2

6数据采集……………………………………………………………………………4

7测量仪器的表征称分…………………………………………………………………5

8过程能力评介众…………………………………………5

9 SPC控制图.……………………………………………5

10关键过程SC技术的实施…………………………………………………7

附录A(资料)数………………………………………………20

附录B(资斗公尚)测量仪器精密度评的为法,最…………………………………………25

附录C(资斗)工为指数(Cpk………………………………36

附录D(资控制医的计……………………45

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