ICS31.080 CCSL40 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11874-2022 电动汽车用半导体分立器件应力试验程序 Stresstestprocedurefordiscretesemiconductorinelectricvehicle 2022-10-20发布 2023-01-01实施 中华人民共和国工业和信息化部 发布 SJ
SJ/T 11874-2022 目次 前言 范围 术语和定 4要求 4.1总则 4.2工作温度等级 ND 4.3通用数据/结 连用房 ATION 4.4试验样品 A 4.5应力试 4.6检验 5试验程户 5.1 通 用试验 5.2 性试 5.3 型 5.4 件更改 的检验要 附录A 规范性 器件组 附录B（ 规范性 最小 附录C（资料 MINI 分立器
SJ/T11874-2022 言 本文件按照GB/T1.1-2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规 定起草。
本文件附录A、附录B为规范性附录，附录C为资料性附录。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。
本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由工业和信息化部电子第四研究院归口。
本文件起草单位：工业和信息化部电子第五研究所 工业和信息化部电子第四研究院、车载服务产 业应用联盟。
本文件主要起草人 SJ STA III
SJ/T 11874-2022 电动汽车用半导体分立器件应力试验程序 1范围 本文件描述了电动汽车用半导体分立器件（以下简称器件）的分级及最低应力试验程序（用于应力 试验程序组成器件检验方案）。
黎的确定。
2规范性引用文件 文中的规范性引用而构成本文件必不可少 中，注日期的引用文件， 仅该日期对应 用于本 不注目期的引用文件，其最新版 反本 的修改单）适用于本 文件。
GB/T 4937 995 器件机械和气试验方法 GB/ 1667 -2012 体器件 机俄和气候试验方法第4部分：强加通险态湿热试验（HAST） GJB 128 导体分 GJB 4027 军用电子 元器件破坏性物理 方法法 4要求 4.1总则 本文件中的试验项 立搭件失效机理而确定的，可按本文件要求制定 半导体分立器件的检验方案 等级的质量和可靠性水平。
使用本文件制定相应的检验方案时，应结合器件自身结构属性（工艺和结构），确定器件适用的试 验项目，并考虑以下内容： a）任何潜在新颖的和特有的失效机理； b）任何使用中不会发生但试验程序或条件本身可能会导致失效的情况； c）任何极端使用或过度应力条件导致试验加速过程降低的情况。
4.2工作温度等级 器件工作温度等级规定如下： a）等级0：工作环境温度范围-40°C~125°℃； b）等级1：工作环境温度范围-40°℃～85°℃。
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