GB/T 41076-2021 微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量分析

ICS71.040.40
CCS G04
中华人民共和国国家标准
GB/T41076—2021
微束分析
电子背散射衍射
钢中奥氏体的定量分析

Microbeam analysis Electron backscatter diffraction-Quantitative determination of austenite in steel
2021-12-31发布 2022-07-01实施
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布

1范围
本文件规定了采用电子背散射衍射(electron backscatter diffraction,EBSD)法测量钢中奥氏体体积分数和形态的方法、设备、取样和试样制备、测量步骤、数据处理和检验报告。
本文件适用于分析含有晶粒尺寸50m以上奥氏体的中、低碳钢及中、低碳合金钢。
本文件不适用于分析晶粒尺寸小于50nm的奥氏体，奥氏体晶粒尺寸小于50m会严重影响定量分析结果的准确性。
注：晶粒尺寸下限是可观察到的最小奥氏体晶粒尺寸。晶粒尺寸下限取决于设备条件和操作参数。
2规范性引用文件
SAC
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T13298
金属显微组织检验方法
GB/T19501微東分析电子背散射衍射分析方法通则
GB/T23414微束分析扫描电子显微术术语
GB/T30067金相学术语
GB/T30703微东分析电子背散射行射取向分析方法导则
GB/T34172微東分析电子背散射衍射金属及合金的相分析方法
GB/T38532微東分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测定
YB/T4377金属试样的电解抛光方法
3术语和定义
GB/T19501、GB/T23414、GB/T30067、GB/T30703、GB/T34172和GB/T38532界定的以及下
列术语和定义适用于本文件。

3.1
等效圆直径equivalent circle diameter;ECD
与晶粒截面积等值的圆的直径。
3.2
横纵比aspect ratio
晶粒截面拟合椭圆的短轴与长轴之比。
注1：又称为晶粒的延仲度。
注2：横纵比的取值范围为0~1，
注3：晶粒截面椭圆拟合有多种方法，得到的横纵比略有差别。

3.3
花样质量pattern quality
菊池带的明锐程度或者衍射花样的对比度。
注：不同商用软件系统中花样质量有多种定义方式，例如带对比度、带锐度、图片质量等。
3.4
标定可靠性indexing reliability
表示标定软件自动分析结果置信度或可靠性的数值。
注：该参数在不同EBSD制造商之间会有所不同，通常包括以下内容：
一衍射晶面的试验测量夹角与对应的经EBD软件数据库取向计算得到的夹角之间的平均差值，例如平均角度偏差(Mean Angel Difference,MAD),
一EBD花样中，与已选取向相匹配的菊池极（三条菊池带的交叉点）数量，和与次优解相匹配的菊池极数量的差值，除以总的菊池极数量所得的商，例如置信度值(Confident Index,CI),
3.5
零解non-indexing
EBSD面扫描数据中未能标定的数据点。
注：多种原因可能造成零解，例如试样表面粗糙、污染、晶界附近的花样重叠、应变造成的花样模糊以及未预设的物相等，
3.6
误标misindexing
EBSD面扫描数据中错误标定的数据点，包括取向错误、物相错误以及标定可靠性达不到预设值。
注：多种原因可能造成误标，例如伪对称性、花样质量差以及对未预设物相的衍射花样标定等，
3.7
标定率hit rate
EBSD面扫描数据中达到标定可靠性预设值的数据点所占的百分比。
注：零解和误标都属于不可靠的标定，

3.8
数据清理data cleaning
按照一套给定的参数（包括一定量的相邻数据点的标定物相和取向等信息）对EBSD面扫描数据中的零解和误标的数据点进行修正的过程。
注：在各商用软件中，各种数据清理方式有不同的名称，包括降噪、外推、膨胀和腐蚀等。
4方法概述
4.1利用EBSD对含有奥氏体的试样抛光面做逐点扫描，通过晶体学分析获得物相分布信息。
4.2对EBSD扫描数据中奥氏体相的数据点进行计算，从而获得奥氏体的体积分数、晶粒尺寸、晶粒形状等定量信息。

投稿会员：芳华