YS/T 83-2020 光谱分析用钯基体
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所属分类：有色金属
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ICS77.150.99
H68 YS
中华人民共和国有色金属行业标准
YS/T83—2020代替YS/T83—2006
光谱分析用钯基体
Palladium matrix for spectral analysis
2020-12-09发布 2021-04-01实施
中华人民共和国工业和信息化部 发布
1范围
本标准规定了光谱分析用钯基体的技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存、质量证
明书及订货单（或合同）内容。
本标准适用于光谱分析纯度为99.9%~99.99%的钯时所用钯基体。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定
YS/T1504一2021高纯钯化学分析方法杂质元素含量的测定辉光放电质谱法
3技术要求
3.1产品分类
钯基体按钯的含量分为两个牌号：SM-Pd99.995、SM-Pd99.999。
3.2化学成分
3.2.1钯基体的化学成分应符合表1的规定。
3.2.2钯含量为100%减去杂质元素实测值总和的余量，杂质元素包括但不限于表1中所列元素。
3.3外观
钯基体为灰色海绵状金属，无目视可见的夹杂物。
4试验方法
4.1钯基体化学成分分析
钯基体的化学成分分析按YS/T1504一2021《高纯钯化学分析方法杂质元素含量的测定辉光放电质谱法》的规定进行。
4.2钯基体中夹杂物采用目视检查。