SY/T 7324-2016 X 射线荧光录井仪校准方法

ICS75.180
E90
备案号：57709—2017 SY
中华人民共和国石油天然气行业标准
SY/T7324—2016
X射线荧光录井仪校准方法
The calibration for X-ray fluorescence logging instrument

2016一12-05发布 2017-05-01实施
国家能源局 发布

1
范围
本标准规定了射线荧光录井仪的技术要求、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果处理和复校时问间隔、HSE要求。
本标准适用于新制造、使用中和修理后的能量色散型射线荧光录井仪的校准。
本标准所用的元素特征X射线能量值均为Ka能量跃迁层能量。
2术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
2.1
X射线荧光录井X-ray fluorescence logging
采用X射线荧光录井仪，根据荧光X射线的波长（能量）和强度对被测样品中元索进行定性和定量分析，从而进行随钻岩性识别和地层分析的录井技术。
2.2
X射线荧光录井仪X-ray fluorescence logging instrument
采用半导体检测器，多道脉冲分析器直接测量试样产生的X射线的波长（能量）的一种X射线荧光分析仪。将X射线照射到岩石样品上，分析其产生的荧光X射线的波长（能量）及强度来进行定性、定量确定元素的种类与含量。主要由激发源、探测系统和仪器控制及数据处理系统和其他辅助设备组成。
2.3
单元素标准样single element standard sample
用来校准单一元素在荧光谱图上的位置与波形的样品，一般由该元素的游离态、氧化物或其他化合物组成。

3概述
X射线荧光录井仪是通过对地层样品进行元素定性和定量分析的仪器，其工作原理是利用X射线固有的波长或是能量和原子序号的规律性来对所测样品进行定性的元素含量分析，工作原理图见图1。
4技术要求
4.1外观
4.1.1应有仪器名称、规格型号、制造厂名、出厂日期和出厂编号。
4.1.2应有明显的电离辐射标识。
4.1.3外观各部件完好，装配应牢固。

4.2电性绝缘
仪器绝缘电阻大于20M。
4.3X射线荧光录井仪配套设备
X射线荧光录井仪由X射线荧光录井仪主机和配套设备组成，其中配套设备包括：
采集计算机；
真空泵；
一粉碎机；
一压样机；
一其他：不小于120目筛子、药勺。
4.4测量范围
Na~U之间(Ka能量：1.04keV~42.76keV)的元素的荧光光谱谱峰。
4.5荧光光谱谱峰调试
调试银片测量值与银元素荧光光谱谱峰标准值22.1keV误差应在±0.05keV以内。
4.6荧光光谱谱峰误差
元索荧光光谱谱峰误差不大于0.1keV。
4.7重复性
元素荧光光谱谱峰和脉冲值重复测量相对误差应在±5%以内。

投稿会员：芳华