YS/T 1344.3-2020 掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分：物相分析 X射线衍射分析法
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H13 YS
中华人民共和国有色金属行业标准
YS/T1344.3—2020
掺锡氧化铟粉化学分析方法
第3部分：物相分析X射线衍射分析法
Methods for chemical analysis of tin-doped indium oxide powder-Part 3:Phase analysis-X-ray diffraction method
2020-04-16发布 2020-10-01实施
中华人民共和国工业和信息化部 发布
1范围
本部分规定了掺锡氧化粉中物相的测定方法。
本部分适用于掺锡氧化锢粉中物相的测定。
2原理
每一种物质的品体都有其特定的X射线衍射谱图，由此根据X射线射到样品表面上获得的特征衍射谱图或数据，从而确定样品中的物相。
3仪器设备
多晶X射线衍射仪，工作环境温度10℃~35℃，环境相对湿度30%~80%。测量参数可根据所用多晶X射线衍射仪使用说明书中的有关要求确定。推荐测量参数：
—CuKa辐射；
一X光管管压40kV,管流40mA;
一发散狭缝(1/4)，散射狭缝(1/2)，接收狭缝7.5mm;
扫描范围(20)：20°~70°。
4试样
4.1试样粒度应不大于0.048mm。
4.2试样应在105C士5℃烘箱中烘干1h,并置于干燥器中冷却至室温备用。