JB/T 9481-2020 扩散硅力敏器件
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所属分类：其他规范
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ICs17.100
N11 JB
中华人民共和国机械行业标准
JB/T9481-2020代替BT9481一1999
扩散硅力敏器件
Diffused silicon pressure sensitive device
2020-12-09发布2021-07-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布
1范围
本标准规定了扩散硅力敏器件的术语和定义、分类与命名、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本标准适用于半导体扩散硅力敏器件（以下简称器件）。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GB/T191包装储运图示标志
GB/T2423.1一2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A:低温
GB/T2423.2一2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B:高温
GBT2423.3一2016环境试验第2部分：试验方法试验Cb:恒定湿热试验
GBT2423.5一2019环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击
GBT2423.10一2019环境试验第2部分：试验方法试验F℃：振动（正弦）
GBT2423.15一2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ga和导则：稳态加速度
GB/T2423.17一2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ka:盐雾
GBT2423.21一2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验M:低气压
GBT2423.24一2013环境试验第2部分：试验方法试验Sa:模拟地面上的太阳辐射及其试验导则
GB/T2423.25一2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验ZAM:低温/低气压综合试验
GB/T2423.26一2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验ZBM:高温/低气压综合试验
GB/T2423.27一2020环境试验第2部分：试验方法试验方法和导则：温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验
GBT2829周期检验计数抽样程序及表（适用于对过程稳定性的检验）
GB/T4475敏感元器件术语
GB/T7665传感器通用术语
3
术语和定义
GBT4475和GBT7665界定的术语和定义适用于本文件。
4分类与命名
4.1型号命名
4.1.1型号的组成
器件的型号由汉语拼音首字母和数字组成。
示例：ML3-口口口
4.1.2说明
型号中第三项“结构特征”：1一硅应变片，2一硅应变梁，3一硅杯。
型号中第四项“测量上限”，由三位数字组成，第一位数代表10的幂数，第二位数代表测量上限的
整数值，第三位数代表测量上限的小数十分位。测量上限的单位为千帕(kP)。例如：325
第一位3：代表10的3次幂；
第二位2：代表整数；
第三位5：代表小数0.5。
该三位数表示的测量上限是：2.5×103kPa。
器件的型号及测量上限见表1。