高清PDF《边界扫描测试技术及应用》陈圣俭、牛春平、石海滨

全书共分10章，主要内容有：边界扫描测试技术的发展过程及基本原理；边界扫描标准体系结构框图及边界扫描测试的总体概念；TAP控制器的组成和工作原理；指令寄存器和指令系统，以及测试数据寄存器的规定及使用；互连测试及诊断算法原理；混合电路边界扫描测试标准IEEE1149.4和模块测试及维护总线标准EEE1149.5；对数字电路系统的边界扫描测试进行了实例剖析：依据混合电路边界扫描测试标准进行BT设计的基本原理框架，并给出了分立元件参数在线测试的流程。

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第1章边界扫描测试技术概述1
1.1技术背景及研究进展1
1.2边界扫描测试技术原理及测试过程4
1.2.1基本原理4
1.2.2测试过程7
1.3测试逻辑结构及框架8
1.4边界扫描测试技术的运用10
第2章测试访问端口13
2.1时钟输人(TCK)14
2.2测试模式选择输人(TMS)15
2.3测试数据输人(TDI)15
2.4测试数据输出(TD0)16
2.5测试复位输入(TRST)16
第3章TAP控制器17
3.1TAP控制器功能概述17
3.1.1TP控制器的状态转换18
3.1.2TAP控制器16个状态功能描述19
3.2TAP控制器工作原理27
3.2.1TAP控制器对指令寄存器的控制28
3.2.2TAP控制器对测试数据寄存器的控制30
3.3TAP控制器设计实现33

3.3.1传统设计方法33
3.3.2基于硬件描述语言的设计方法39
3.3.3TAP控制器的初始化41
第4章指令寄存器及测试指令43
4.1指令寄存器功能概述43
4.2指令寄存器工作原理及设计实现44
4.3测试指令47
4.3.1指令的分类47
4.3.2测试指令集48
第5章测试数据寄存器67
5.1测试数据寄存器概述67
5.2边界扫描寄存器71
5.2.1边界扫描寄存器的设计与实现73
5.2.2边界扫描寄存器单元76
5.2.3特殊情况的优化设计110
5.3旁路寄存器113
5.4器件标识寄存器114
5.4.1器件标识寄存器的原理及设计实现114
5.4.2制造厂商标识码(Manufacturer Identity Code）116
5.4.3Pat-number码和版本号(Version)117
第6章边界扫描互连诊断算法118
6.1故障模型及基本概念119
6.1.1故障模型119
6.1.2基本概念121
6.1.3边界扫描互连诊断算法优劣评价标准122
6.2边界扫描互连诊断算法研究现状及存在的问题123
6.2.1常规互连诊断算法研究现状123

6.2.2结构互连诊断算法研究现状125
6.2.3自适应互连诊断算法研究现状126
6.2.4边界扫描互连诊断算法存在的问题127
6.3有关征兆误判和征兆混淆的定理和推论的证明128
6.3.1故障检测定理128
6.3.2抗误判定理129
6.3.3完备性定理131
6.4W-A与W-O+W-A的常规互连诊断算法132
6.4.1改进的W-0抗误判算法132
6.4.2改进的W-A抗误判算法135
6.4.3同时具备W-0和W-A对角独立性的多故障测试生成算法137
6.4.4W-A的GNS算法141
6.4.5W-0+W-A的GNS算法143
6.4.6常规互连诊断算法总结145
6.5结构互连诊断算法147
6.5.1故障提取及故障原因分析147
6.5.2短路故障提取方法148
6.5.3结构算法相关定义151
6.5.4现有结构诊断算法分析152
6.6W-A与W-O+W一A的自适应互连诊断算法159
6.6.1W-A的自适应互连诊断算法159
6.6.2W-0+W-A的自适应互连诊断算法162
6.6.3改进的自适应互连诊断算法165
第七章
混合电路边界扫描测试标准172
7.1混合电路测试工作原理及基本测试结构172
7.2测试总线接口电路(TBIC)176
7.2.1测试总线与TBIC结构176
7.2.2测试总线接口电路控制178

7.2.3隔离内部测试总线结构180
7.3ABM模块182
7.3.1ABM的基本结构182
7.3.2ABM的控制185
7.3.3差分ABM187
7.4指令190
7.5测量方法193
7.5.1互连测试193
7.5.2扩展互连测试194
7.5.3网络测量196
第八章模块测试及维护总线标准197
8.1EEE1149.5标准简介197
8.2EEE1149.5MTM总线的结构、寻址方式和物理层协议200
8.3IEEE1149.5MTM总线的链路层协议202
8.3.1消息包说明及要求203
8.3.2主模块的链路层协议204
8.3.3从模块的链路层协议206
8.4IEEE1149.5MTM总线的消息层协议209
第9章数字电路系统边界扫描测试技术应用212
9.1被测系统描述212
9.1.1被测系统分析212
9.1.2被测系统测试性设计214
9.2主控系统硬件设计222
9.3主控系统软件设计224
9.4边界扫描测试验证与结果分析230
9.4.1边界扫描互连测试验证232
9.4.2边界扫描簇测试验证238

9.4.3芯片功能自测试验证241
9.4.4BIST测试241
第10章基于边界扫描测试技术的混合信号电路BT应用242
10.1研究对象简介242
10.2基于边界扫描技术的混合信号电路测试性设计242
10.3被测电路系统的设计和改造243
10.3.1相关性分析和建模243
10.3.2测试优选246
10.3.3制定诊断策略247
10.3.4基于边界扫描技术的BT设计实现248
10.4测试类型和测试方法252
10.4.1边界扫描链路完整性测试252
10.4.2器件间互连测试…252
10.4.3分立元件参数测试254
参考文献257

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