HG/T 5658-2019 量子点膜用高阻隔封装膜

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ICS71.080.99
G15 HG
中华人民共和国化工行业标准
HG/T5658-2019
量子点膜用高阻隔封装膜
High barrier encapsulating film for quantum dot

2019-12-24发布2020-07-01实施
中华人民共和国工业和信息化部 发布

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1范围
本标准规定了量子点膜用高阻隔封装膜的要求、试验方法、检测规则以及标志、包装、运输和贮存。
本标准适用于量子点膜用高阻隔封装膜。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T191包装储运图示标志
GB/T2410透明塑料透光率和雾度的测定
GB/T2918塑料试样状态调节和试验的标准环境
GB/T6672塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法
GB/T11186.3漆膜颜色的测量方法第三部分:色差计算
GB/T21529塑料薄膜和薄片水蒸气透过率的测定电解传感器法
GB/T25257光学功能薄膜翘曲度测定方法
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
量子点quantum dot
一种纳米级别的半导体,通过对这种纳米半导体材料施加一定的电场和光压,便会发出特定频率
的光,通过调节纳米半导体的尺寸就可以控制其发出的光的颜色。

3.2
水蒸气透过率water vapor transmission rate,WVTR
在特定条件下单位时间透过单位面积试样的水蒸气量。
3.3
高阻隔high barrier
薄膜水蒸气透过率≤0.1g·m2·d1,称为高阻隔。
4要求
4.1收卷质量和表观质量
4.1.1整轴薄膜收卷应平整,松紧一致、收卷整齐,膜卷端面对准度≤3mm。

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