GB/T 2423.16-2022 环境试验 第2部分：试验方法 试验J和导则：长霉

ICS19.040
CCS K 04 GB
中华人民共和国国家标准
GB/T2423.16-2022/IEC60068-2-10:2018代替GB/T2423.16-2008
环境试验
第2部分：试验方法
试验J和导则：长霉

Environmental testing-Part 2:Test methods-Test J and guidance:Mould growth
(IEC 60068-2-10:2018,Environmental testing-Part 2-10:Tests-Test J and guidance:Mould growth,IDT)
2022-07-11发布 2023-02-01实施
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布

1范围
本文件描述了确定电工电子产品上长霉程度和长霉对产品性能及其他相关特性影响的试验方法。
由于长霉条件包含高相对湿度，本文件适用于在潮湿环境下贮存、运输以及使用一段时间的电工电
子产品。
2规范性引用文件
本文件没有规范性引用文件。
3术语和定义
本文件没有需要界定的术语和定义。
4一般说明
4.1背景材料
在一定的气候和环境条件下，微生物可在电工电子设备表面附着并大量繁殖。这些微生物或它们的代谢产物不仅可损坏设备本身，还可影响设备的可操作性和使用可靠性。微生物对设备的作用形式受到两种不同过程的影响：直接作用即劣化的材料作为微生物生长的一种营养物质，以及间接作用即微生物的代谢产物引起（设备材料和/或功能的）劣化。
控制微生物影响的首选方法是选择不利于生长的材料。同样可采取的是对于潜在易损材料和部件进行处理或密封。另外，如果设备在其整个寿命期间，是在不太可能促进微生物生长的环境中贮存和/或使用，则不必对设备进行评估。只有在不能达到以上这些条件的情况下，通常才需要通过试验来证明设备整机或部件的耐霉性。

4.2试验程序的选择
本文件中的试验程序需要将电工电子产品暴露于筛选的霉菌孢子试验菌株的作用下，并在促进孢子萌发和霉菌生长的条件下培养一段时间。在暴露结束时，对样品通过外观检查进行劣化评估。如果适用，对样品的质量或其他物理性质的任何变化进行评估。
本文件包含两个基本试验程序：试验方法1和试验方法2。
a)在试验方法1中，样品在不完全营养培养基（无碳源）中接种霉菌孢子的混合悬浮液。霉菌只能以牺牲样品为代价生长。如果样品中不含任何营养成分，则真菌不能繁殖菌丝体，并且材料不会劣化。
b)在试验方法2中，样品在（完全）营养液（即有碳源）中接种霉菌孢子的混合悬浮液。即使样品不含任何营养元素，霉菌也能在样品上生长，并且其代谢产物能对材料造成破坏。样品上对生长的任何抑制都显示出材料的真菌活性或存在杀菌处理。
4.3于
指定试验程序时的注意事项
粉尘、液体、浓缩的易挥发营养物质或油脂等形式的表面污染可能沉积在组装的样品上。在贮存、使用或运输过程中的产品由于在大气中暴露或没有保护性覆盖的情况可造成以上情况。这种表面污染能造成真菌定植的增加，并可导致更大量的生长和更大的破坏。通过应用试验方法2能评估这种污染的影响。
由于难以在非常大的腔室中保持必要的试验条件，大型设备可拆分若干个子单元进行试验。这将在任何情况下使试验成本最小化，因为几个子单元的构造可能非常相似，以至于只需要对其中一个进行试验。
测定样品抗老化性能的培养期时间以微生物降解作用变得明显为准。它不一定与设备暴露于支持微生物生长的不利温度/湿度条件下的持续时间相关，也无需复现该暴露时间。

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