第36卷,第10期 光谱学与光谱分析 ol36,no.10pp3303-3307 2016年10月 Spectroscopy and Spectral Analysis October .2016 icp-os雾化系统对汽油中不同硅化学形态测量的适应性研究 赵彦,陈晓燕,徐董育,张世元,廖佳 深圳市计量质量检测研究院,广东深圳518131 摘要汽油中含硅化合物的存在会在燃烧时形成二氧化硅沉积于汽车燃烧系统的不同部位,进而导致车 辆故障的发生。汽油中的含硅化合物可能以不同的形态存在。采用有机直接进样模式的电感耦合等离子体 发射光谱(ICP-OES)法测定油品中的微量杂质因其方便、快速正得到越来越多的应用。本文研究了不同的 icp-oes雾化系统对不同形态含硅化合物测量的影响。对于微量旋流雾化系统,硅的发射强度与硅化学形 态有明显关系,硅化合物挥发性越大,硅元素的发射强度就越强。微量可控温旋流雾化系统可改善易挥发性 硅元素的发射强度增强效应,但仍无法完全消除此增强效应。直接注入高效雾化器(DIHEN )雾化系统的应 用,可有效消除易挥发性硅的发射强度增强效应,比较适合汽油中硅含量的测定DIHEN -icp-oes方法的 加标回收率为92.8%~108.7%,相对标准偏差(RSD,n=10)为1.05%~4.63%,方法检出限为0.05mg kg与传统微波消解法相比,h-ICP-OES 具有简便快速灵敏,准确度较高的优点可用于汽油中 硅含量的直接检测。 关键词汽油;硅化学形态;直接注入高效雾化器(DIHEN )iCP-es 标识码:ADOI:10.3964iss.1000-0593( doi:10.3964/j.iss.1000-0593(2016)10-3303-05 广泛应用1采用有机溶剂直接进样的CPs测定法无 引言 疑是一个很好的选择。 待测元素化学结构的不同导致气溶胶在气相与液相之间 世界燃油规范(第五版)和车用汽油GB17930 的分配过程较复杂,从而影响到ICP-OES 的分析性能。雾化 20132国家标准均明确规定不得人为添加含硅化合物。按常 系统对元素的不同形态化合物测量有重要影响,当采用传统 规汽油产品的生产加工工艺和调和组分的组成情况,汽油中 的气动雾化器时,易挥发性的化学形态在雾化阶段容易以蒸 的硅含量一般应少于2mg·-1,而近年来因汽油中含硅化 气的形式进入等离子体检测,导致待测元素发射强度明显增 合物存在而导致的汽油质量事故时有发生,个别汽油中的硅 强,产生类似现象的元素有As,Ga2,Ge,Mo4, 含量甚至达几千mg·L-。汽油中的含硅化合物主要以有机 ],Ru ],,],Si19-20 ), 硅的形式存在,如硅氧烷,硅烷,硅醇等,主要来源可能是 本文考察了1CP-OES雾化系统对汽油中不同硅化学形 一些含硅的回收溶剂作为调和...
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