GB/T 37211.3-2022 金属锗化学分析方法 第3部分痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法.pdf

辉光放电,金属锗化学分析方法,石化规范
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is77.040 CCS H 17 中华人民共和国国家标准 GB/T37211.32022 金属锗化学分析方法 第3部分痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法 Method for chemical analysis of metal germanium - Part 3 :Determination of trace impurity elements content - Glow discharge mass spectrometry 2022-12-30发布 2023-04-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/T37211.3—2022 前 言 本文件按照GB/T1.12020《标准化工作导则第1部分标准化文件的结构和起草规则》的规定 本文件是GB/T37211《金属锗化学分析方法》的第3部分GB/T37211已经发布了以下部分: 第1部分:砷含量的测定砷斑法; 第2部分:铝、铁、铜、镍、铅、钙、镁、钴、铟、锌含量的测定电感耦合等离子体质谱法; 第3部分:痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)与全国半导体设备和材料标准 化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。 本文件起草单位:安徽光智科技有限公司、云南驰宏锌锗股份有限公司、国标(北京)检验认证有限 公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、东方电气(乐山)峨半高纯材料有限公司、有研国晶辉新材料有 限公司、广东先导稀材股份有限公司、广东飞成新材料有限公司。 本文件主要起草人:朱赞芳、谭秀珍、廖吉伟、刘红、吴王昌、黎亚文、李瑶、刘英波、李正美、崔丁方、 李江霖、段春芳。 gb/T37211.32022 引言 金属锗用途十分广泛,是传统材料更是当代高科技新材料的重要组成部分。红外锗单晶、含锗光 纤半导体锗片等材料广泛用于通讯技术、电子计算机、宇航开发、感光材料、光电材料、能源材料等领 域。锗具有亲石、亲硫、亲铁、亲有机的化学性质,很难独立成矿,一般以分散状态分布于其他元素组成 的矿物中,成为多种金属矿床的伴生组分。GB/T37211《金属锗化学分析方法》是金属锗化学分析方法 的系列标准,对于提高金属锗生产技术能力和工艺控制水平,满足国内外市场需求有重要意义。 GB/T37211由3个部分构成。 第1部分:砷含量的测定砷斑法。目的在于确立金属中的砷含量的测定方法。 第2部分:铝、铁、铜、镍、铅、钙、镁、钴、铟、锌含量的测定电感耦合等离子体质谱法。目的在 于确立金属锗中铝、铁、铜、镍、铅、钙、镁、钴、铟、锌含量的测定方法。 第3部分痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法。目的在于确立金属锗中痕量杂质元素的 测定方法 随着社...

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