L23 ICS 31.220.10 中华人民共和国国家标准 GB/T5095.2505-2021/IEC60512-25-5:2004 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗 Electromechanical ponents for electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods-- Part 25-5:Test 25e:Return loss (IEC 60512-25-5:2004,Connectors for electronic equipment-- Tests and measurements-Part 25-5: Test 25e:Return loss, IDT) 2021-03-09发布 2021-10-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会
GB/T 5095.2505-2021/IEC 60512-25-5:2004 目 前言 1范围 2术语和定义 3试验设施 3.1设备 3.2装置 4试验样品 4.1说明 5试验程序 5.1总则 5.2装置回波损耗 5.3样品回波损耗测量 5.4时域法 6相关标准应规定的细则 7试验记录文件 附录A（规范性附录）装置和设备示意图 附录B（资料性附录）实用指南
GB/T 5095.2505-2021/IEC 60512-25-5:2004 前言 GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。
GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下： --第25-1部分：试验25a：串扰比； --第25-2部分：试验25b：衰减（插人损耗）； 一第25-3部分：试验25c：上升时间衰减； --第25-4部分：试验25d：传输时延； -第25-5部分：试验25e：回波损耗； --第25-6部分：试验25f：眼图和抖动； -一第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR)； -第25-9部分：信号完整性试验试验25i：外来串扰。
本部分为GB/T5095的第25-5部分。
本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。
本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-5：2004《电子设备用连接器试验和测量第25-5部 分：试验25e：回波损耗》。
本部分做了下列编辑性修改： 标准名称由《电子设备用连接器试验和测量第25-5部分：试验25e：回波损耗》修改为《电 子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-5部分：试验25e：回波损耗》； -一图A.1b）中原文“标准装置（有样品）、样品装置（无样品）”为明显笔误，修改为“标准装置（无 样品）、样品装置（有样品)”。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。
本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。
本部分起草单位：四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。
本部分主要起草人：庞斌、朱茗、肖森、刘俊、汪其龙。
GB/T 5095.2505-2021/IEC 60512-25-5:2004 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗 1范围 GB/T5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。
本部分描述了用于测量作为频率函数的回波损耗的频域法和时域法。
2术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。
2.1 回波损耗returnloss 样品测量的反射信号与输入信号之比。
注：可用分贝(dB)表示。
2.2 样品环境阻抗specimenenvironmentimpedance 由装置在样品信号导线上引起的阻抗。
该阻抗是由传输线路、终端电阻、附装的接收器或信号源， 以及装置的寄生效应产生的。
3试验设施 3.1设备 3.1.1频域 采用具有适用于受试器件（DUT)动态范围的网络分析仪。
差分测量时，可采用具有多端口试验位 置或平衡-不平衡转换器的网络分析仪。
3.1.2时域 优先采用时域反射计（TDR)、触发脉冲发生器和合适的快速傅里叶变换（FFT)软件。
3.2装置 3.2.1概述 样品环境阻抗应与试验设备的阻抗匹配。
除非详细规范中另有规定，通常，对于单端测量，该阻抗 为50Ω，差分测量为100Ω。
装置和设备的示意图见附录A。
3.2.2样品导线配置 每次测量时，应按详细规范中的规定安装好激励线路。
在规定的样品环境阻抗...
