GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f：眼图和抖动.pdf

ICS31.220.10 L23 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T5095.2506-2020/IEC60512-25-6:2004 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f:眼图和抖动 Electromechanical ponents for electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods- Part 25-6:Test 25f:Eye pattern and jitter (IEC 60512-25-6:2004 Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 25-6:Test 25f:Eye pattern and jitter IDT) 2020-04-28发布 2020-11-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/T5095.2506-2020/IEC60512-25-6:2004 目 次 前言……………… I 1总则……………………………………………………………………………1 1.1范围和目的…… 1 1.2术语和定义……… ……………………… ……………1 2试验设施…………… 2.1设备………… ……1 2.2装置…… ………1 3试验样品………………………………………………………… 2 3.1说明………… ………………………2 4试验程序……… 2 4.1总则…………… ………………2 4.2眼图…………………………………………………………………………………………………2 4.3抖动 ………3 5相关标准应规定的细则 ……………………………………………3 6试验记录文件………………………… ……………4 附录A(规范性附录)样品终端示意图……………………………………………… 5 附录B(资料性附录)眼图诠释一一实用指南……………………………………7 GB/T5095.2506-2020/IEC60512-25-6:2004 前言 GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分. GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下： ——第25-1部分：试验25a:串扰比； ——第25-2部分：试验25b:衰减（插入损耗）； —第25-3部分：试验25c:上升时间衰减； —第25-4部分：试验25d:传输时延； ——第25-5部分：试验25e:回波损耗； —第25-6部分：试验25f:眼图和抖动； ——第25-7部分：试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR); ——第25-9部分：信号完整性试验试验25i:外来串扰. 本部分为GB/T...