GB/T 5095.2509-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验 试验25i：外来串扰.pdf

ICS31.220.10 L23 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T5095.2509-2020/IEC60512-25-9:2008 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验 试验25i:外来串扰 Electromechanical ponents for electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods- Part 25-9:Signal integrity tests- Test 25i:Alien crosstalk (IEC 60512-25-9:2008 Connectors for electronic equipment- Tests and measurements-Part 25-9:Signal integrity tests- Test 25i:Alien crosstalk IDT) 2020-04-28发布 2020-11-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T5095.2509-2020/IEC60512-25-9:2008 目 次 前言…………… Ⅲ 1范围和目的………………………………………………………………………1 2规范性引用文件……… 1 3术语和定义…………………………………………… ……1 4概述………………………… ……2 4.1程序…………………………………………………………………………………2 4.2试验条件……… 3 5总体试验配置………………………………………………3 5.1总则……… ………………………………………………3 5.2终端 …… …4 5.3试验连接器线对……………………………………… ……4 6自一个连接器至另一连接器的外来串扰试验程序…………………………………5 6.1校准…… 5 6.2测量（噪声）最低标准 …………6 6.3外来串扰测量 …………………………………6 7外来串扰显著性确定程序…… ………7 8相关详细规范应规定的细则………… ………………7 9功率和计算、报告和试验记录文件……………………………………………7 附录A(资料性附录)获取外来串扰性能数据的流程图……………………………………………8 附录B(资料性附录)外来申扰试验采用的同轴开关实例……………9 参考文献………………… …………………………………………13 I GB/T5095.2509-2020/IEC60512-25-9:2008 前言 GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分. GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下： —第25-1部分：试验25a:串...