中华人民共和国电子行业标准 FL6132 SJ21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法 Lowpressureleakdetectiontestmethodformicrowaveassembly 2016-12-14发布 2017-03-01实施 国家国防科技工业局 发布
SJ 21160-2016 前言 本标准的附录A是规范性附录。
本标准由中国电子科技集团公司提出。
本标准由工业和信息化部电子第四研究院归口。
本标准起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所。
本标准主要起草人：席善斌、 洗形茜 刘中华、彭浩、黄杰、崔波、陈海蓉。
INF SJ
SJ 21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法 1范围 本标准规定了微波组件低气压检漏的试验程序与试验方法。
本标准适用于频率大于300MHz的微波组件密封性能的检测。
2规范性引用文件 AND 下列文件中的条款 的引用文件，其随后的 参订版均不适用于木标准，然而， 标准达成协议的各方研究 是否可使用这些 版本。
凡是不注日期的引用文件， 其最新版 本标准。
GJB 2712 装智 保阶 量过程的质量控 新榜电 "8 TECH GJB3007 工作 3试验原理 当漏孔两到存 定压差 孔人 人高压询低压侧移动 如在低压侧有试验液 体，漏孔处将可能吹起一 个气泡，从而 小及孔的位置。
如图1月示将式验液信 8 外壳或密封处的最上端浸没一定深 度，将待检微波1社收入试验 关闭真 ，启动真空泵，将腔内压力 使救波组件壳内外产 生一定的压差 差的作用下，壳内气体会通过某些漏孔进入试验液， 泡 从而检测出漏孔。
本试验用子 标值不小于1.013Pa*cm/s漏率的样品。
低气压腔 STA 验箱 试验液体 样品台 密封垫圈 Q 真空表 抽真空 图1低气压检漏示意图
SJ21160-2016 4一般要求 4.1人员 4.1.1试验人员应经过设备操作及试验程序上岗培训，具备上岗资格。
4.1.2试验人员应穿若防静电服、防静电鞋，佩戴防静电腕带。
4.2环境 试验室环境要求如下： a)温度：15C~35℃； b）大气压力：86kPa~106kPa; c)相对湿度：20%~80%； d静电防护应满足GJB3007的规定。
试验室内其他环境条件应满足相关规范的要求。
4.3校准 试验设备均按GJB2712的要求进行校准。
校准过的设备应在校准有效期内使用，并以适当的方式控 制、使用和存放，以保证其校准状态。
4.4试验设备 4.4.1低气压试验箱 低气压试验箱要求如下： a）试验设备运行可靠，降压速率可调，压力能够保持； b）真空压力能够保证低至4kPa； c)能提供满足试验要求的观察窗。
4.4.2透明试验箱 透明试验箱要求如下： a）口试验箱容积应足够大，以使试验样品能够完全浸没，试验样品最上部分在液体中浸没深度 不小于50mm； b）采用的去离子水应清洁无杂质，电阻率约为18MQcm； c）试验箱目视气泡区域的光照度应不小于1.6×101x，光源放置位置应对观察者无强烈的入射和 反射光。
必要时可在容器前方放置4倍～10倍的放大镜，当把试验样品浸入试验液体中时，能 够观测到样品中冒出的气泡； d）试验箱的背景应由粗糙、不反光的黑色材料构成。
4.4.3样品台 样品台要求如下： a）样品台可升降，确保微波组件最上部分在液体中浸没深度不小于50mm； b）样品台可将微波组件固定在试验箱内，且与微波组件接触面尽量小，以便观测组件的密封情况。
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SJ 21160-2016 5试验程序与方法 5.1试验前准备 5.1.1透明试验箱清洁及更换去离子水 应及时更换去离子水并清洁试验箱，以免液体中杂质堵塞样品漏孔或干扰气泡的观察效果。
5.1.2组件预处理 在标准大气环境条件下，清洁被检件，去除标签、油脂、粉尘等污物，避免堵塞漏孔或生成气泡造 成错误的显示并进行干燥处理。
5.2试验 5.2.1检漏设备检查 设备应良好接地，并确保设备具有良好的抽真空性，以便于气泡观察。
5.2.2预抽气 将盛有去离子水的试验箱放置在低气压箱中，启动试验设备，开启真空抽气系统，使真空室内压力 由正常环境压力降至不高于4kPa压力值，以便排除水中溶解的气体。
并保持适当时间，直到气泡或泡 沫不再从液体中冒出为止。
5.2.3放置样品 待水中溶解的气体排净后，打开低气压箱，箱内气压恢复至常压，将微波组件缓慢放入试验箱中， 以防止水中混入空气。
组件的待检面朝上，浸入深度不小于50mm。
试验箱中可放置一只或一组微波组 件，成组放入时应保证能清楚地观察到每只微波组件冒出的气泡和产生气泡处。
5.2.4抽气 关闭...
