SJ 中华人民共和国电子行业标准 FL6190 SJ21252-2018 自动光学检测系统工艺验证方法 Technological verification procedures for automatic optical inspection system 2018-01-18发布 2018-05-01实施 国家国防科技工业局发布 SJ21252-2018 前 言 本标准的附录A为资料性附录. 本标准由中国电子科技集团公司提出. 本标准由工业和信息化部电子第四研究院归口. 本标准起草单位：巾国电子科技集团公司第四十五研究所 本标准主要起草人：张继静、连军莉、杨晓静、黄晓鹏、吕荣华. CHNOJ SJ STANDARDS I SJ21252-2018 自动光学检测系统工艺验证方法 1范围 本标准规定了自动光学检测系统工艺验证的一般要求、验证条件、验证方法等内容. 本标准适用于检测印制电路板和陶瓷基板的自动光学检测系统（以下简称系统）工艺性能的验证. 2规范性引用文件 ND INFORM期的引用文件其随后的 下列文件中的条款通过本标准的用而成为本标准的条 修改单（不包含勘误的内容）或修订版均不适用于木标准，然而， 励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本.凡是不注日期的引用文件，其最新版 适用于本标准. GB/T25915 1-2010 清净室及相关受控环境第1部分：空气洁净度等 3术语和定义 下列术语 适用于体标准. 3.1 TECHN 自动光学 统automatic optical inspectios system 基于光学 采用图像比方法，能创够对印制电路版或瓷基板进行缺名 并由系统软件取 得缺陷坐标的程 心 系统. 4一般要求 A90 4.1验证试验前受试系统状态控制 应通过以下措施保证试验前受试系统的技术状态： a)送验方应提前向试方提交产品规范和受试系统使用说明书等随机文件； b)受试系统主要技术性能应达到产品规范所规定的要求 c)承试方对受试系统进行相应的调整和校准 d)承试方检查并记录受试系统的有关技术参数和工作状态，记录格式参见附录A中表A.1. 4.2验证试验过程中受试系统状态控制 应通过以下措施保证试验过程中受试系统的技术状态： a)受试系统移交后，由承试方负责组织实施系统的验证试验工作； b)未经承试方同意，任何人不得随意更改、调试受试系统的工作状态； c)试验期间受试系统的使用、维护，应按送验方提供的系统使用说明书中的有关规定执行； d)应记录试验期间受试系统所发生的故障及其检查排除情况，记录格式参见附录A中表A.2: )试验期间受试系统零件、部件、整件损坏或失效，应经承试方同意后方可更换，更换后应对系 统有关技术参数重新测试； f)试验中应详细进行试验记录. 1 ...
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