SJ/T 11777-2021 半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法.pdf

半导体产业,其他规范
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ICS17.220 L85 SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11777—2021 半导体管特性图示仪校准仪技术要求和 测量方法 Technology requirements and test methods for curve tracers calibrators 2021-03-05发布 2021-06-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 SJ/T11777—2021 目次 前言 …I 1范围.. .1 2规范性引用文件 …1 3术语和定义…… .1 4技术要求..... ………1 4.1外观要求…… .1 4.2功能要求.… 2 4.3电气性能要求..... ..2 5测量方法 2 5.1测量条件... 2 52测量用仪器设备 2 5.3测量方法. 3 SJ/T11777—2021 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本标准由全国电子测量仪器标准化技术委员会提出并归口 本标准起草单位:中国电子技术标准化研究院、深圳市施罗德工业集团有限公司. 本标准主要起草人:李洁、刘冲、张珊、胡鹏、宋有聚. AND SJ STANDARDS ...

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