SJ 中华人民共和国电子工业部部标准 SJ2534.2—85 天线测试方法 (一) 1985-01-05发布 1986-07-01实施 中华人民共和国电子工业部批准 中华人民共和国电子工业部部栋准 天线测试方法 SJ2534.2-85 天线测试场的设计 本标准适用于天线测试场的设计. 1概述 本标准适用于天线测试场的设计.天线辐射方向图的测量与天线测试场周围的环境无关是对天线 测试场的根本要求.现已研制成满足此要求的各种类型的测试场.测试场包括测量所需的测试设备 及实际空间.本标准着重叙述相对幅度方向图的测量. 1.1天线测试场的基本形式 用于测量被测天线辐射特性的理想入射场是均匀平面波.实际上只能逼近这种波.为此目的，已 设计出两种基本形式的测试场. 1.1.1自由空间测试场 此种测试场的设计方针是把周围环境的影响都抑制到可以接受的电平上.属于此类测试场的 典型测试场有：高架测试场、斜式测试场、缩距式测试场以及大多数无回波室. 1.1.2反射式测试场 此种测试场的设计关键是合理地利用反射来产生近似的平面波.即利用测试场表面上镜式反射能 量与直射能量在被测天线所在区域产生有益的干涉.只要设计得当，照射场将具有基本上对称的、小 的幅度锥削.为达到此目的，可固定被测天线的高度，而调节源天线离测试场表面的高度. 2天线测试场的设计准则 2.1概述 为了建立对两种基本形式的测试场都适用的设计准则，必须考虑下列因素： a.源天线和被测天线之间的互耦效应； b.照射波前的横向与纵向幅度锥削； c.照射波前的相位曲率； d由反射引起的照射波前的空间变化； e.杂散辐射源的干扰. 本章讨论a、b二项.与测试场表面及其他障碍物的反射有关的问题在SJ2534.4一85《天线测试 方法天线测试场的鉴定》中讨论. 室外测试场常受到场外信号源的于扰.这些干扰源可能是移动通信设备、雷达或遥测系统.应采 用滤波器抑制这些干扰信号的影响. 2.2源天线和被测天线之间互耦的影响 2.2.1电抗场耦合的影响 任何天线的总场都由辐射部分和电抗部分组成，辐射场按离开天线的距离的倒数衰减，而电抗场 按此距离平方的倒数迅速衰减.通常，源天线和被测天线之间的距离是足够远的，故源天线电抗场的 电平可以忽略不计.然而，实际情况可能不尽如此，此时被测天线会耦合电抗场，对某些类型的测量 这将产生误差.当距离大于10个波长时，这一影响可以忽略不计.计算表明，对于短耦极子天线，若距 中华人民共和国电子工业部1985一01-05发布 1986-07-01实施 1 SJ2534.2-85 该天线的距离为10个波长，则感应场（即产生耦合的电抗场）的电平比辐射场低36dB. 2.2.2互耦的影响 除了电抗场耦合以外，尚需考虑源天线与被测天线之间的再辐射耦合或互耦.此时，被测天线把接 收到的能量的一部分向源天线再辐射，而...
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