SJ 中华人民共和国电子工业部部标准 SJ2554-84 波导和同轴元件相位测量方法 1984-12-06发布 1985-07-01实施 中华人民共和国电子工业部批准 中华人民共和国电子工业部部标准 SJ2554-84 波导和同轴元件相位测量方法 本标准规定了波导和同轴元件相移量的测量方法.本标准所规定的相移量测量方 法有四种，其中每种方法又有三个精度等级.相移量的测量可选用其中任何一种方法 和精度等级进行.当利用较低精度的设备和方法不能判定测量结果时，应选用精度更 高的测量设备或方法.各测量方法和精度等级对设备的要求，见附录A(表A). 本标准原则上适用于系统相移量的测量. 若产品标准中无特殊规定，本标准所规定的测量均应在GB2421-81《电工电子产 品基本环境试验规程总则》中所规定的“正常试验大气条件”下进行. 1反射波法 1.1适用范围 本方法适用于相移量为0~180、损耗小于3分贝的可逆元件（或系统）的相位诞 量.对大于180的相移量，在已知其相移量的粗略值时亦可采用本方法进行测量. 1.2名词、术语 1.2.1相移量：被测件输入端口与输出端口传输波间的相角差，用中z1表示： 中1=arBa (11) 式中：a1一被测件输入端的入射波； bz一被测件输出端的出射波. 1.2.2特征相移：在匹配条件下被测件的相移量，即： 中a1=argsa1=argh(b1=a=0)(1-2) 式中：S21一一被测件输入端至输出端的散射系数； bi一一被测件输入端的出射波： a2一一被测件输出端的入射波. 1.2.3差分相移：接于匹配系统中的被测件由始态到终态的特征相移量差，用中4表 示： 中A=b"21-'21=argS"1-8rgS'21 S"1(1-3) arg S/21 电子工业部1984-12-06发布 1985-07-01实施. 1 SJ2554-84 式中：21一一被测件终态时的特征相移量； 中'1一被测件始态时的特征相移量. 1.3测量原理 当被测件终端金反射时，根据驻波节点的位置来确定其相角. 1.4测量方框图 测量方框图见图1一1，图中虚线方框表示可根据测量要求而取舍的设备. 指示器 不器 1 我成蹈育 定向分器 可费我诚器 测黄统 赣测件 一波段 可吸路 图1一1 1.5测量条件 1.5.1测量应在无外界电磁场干扰的条件下进行. 1.5.2被测件端口连接器的界面尺寸与结构形式应与测量系统一致，否则应加转接 器.（转接器的失配误差应计及）. 1.6对测量设备的要求 1.6.1按测量频率选择所需要的测量线和可移短路器. 1.6.2测量线 1.6.2.1测量线的探针调谐机构稳定可靠. 1.6.2.2测量线探针反射应小于0.01，由此引起的测量误差可忽略不计. 1.6.2.3测量线探针座位置读数的分辨率应不低于±0.05mm.若有必要...
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