中华人民共和国国家标准 盘封管电性能测试方法 UDC621.385.13 频率位置的测试方法 GB7273.3-87 降为SJ/T10866-96 Measurements of the electrical properties of disk-seal tubes Measuring methods of the frequency position 本标准适用于空间电荷控制盘封管频率特性的测试. 测试设备及测试规则应符合GB7273.1一87《盘封管电性能测试方法总则》. 1基本原理 为了保证各生产厂大量生产的盘封管具有互换性，不仅盘封管的常规参数要一致，且许多的微波 特性也要相似.用于盘封管的谐振器一般都是同轴的，因此盘封管成为电路的一个主要部分.电路的 谐振频率不仅决定于所采用某一盘封管的总电容，而且决定于管壳内部的电容分布状况以及电极连接 有关联的盘封管金属部件的形状.因此，除了需要测试电容外，还要在标准电路内观察频率及频率变 化. 频率位置就是盘封管连同标准电路测量时的谐振频率. 2测试原理图 微波 电子管 探测器 信号源 谐振腔 及仪表 图1频率位置测试方框图 频率位置是用一标准谐振腔来测出的（如图1所示）. 在测试各种不同类型的盘封管的频率位置时，要求用以下标准电路测出. 三极管：标准阳极电路（阳极到控制栅） 标准阴极电路（阴极到控制栅） 四极管：标准阳极电路（阳极到帘栅极） 标准阴极电路（阴极到控制栅） 标准帘栅极电路（帘栅到控制栅） 在此项测试中每次只能将一种电路连接到被测管上.为了避免未被连接的电极影响测试电路，这 些电极应由有损耗的材料包围或处在一失谐电路中. 3确定各类型盘封管的频率位置的标准电路 典型的标准电路如图2~图6所示.图中所标注的尺寸(D、d、L)由制造厂规定，其直径公差 范围应符合下表： 国家标准局1987-02-19发布 1987-12-01实施 1 GB7278.3-87 直径，mm 标准公差，μm 直径mm 标准公差，μm 80~120 87 >3~6 30 >120~180 100 >6~10 36 >180250 115 >10~18 43 >250-315 130 >18~30 52 >315~400 140 >30~50. 62 >400~500 155 >50~80 74 测试无插座面的盘封管，则应规定其他合适的基准面，以保证被测管在标准电路内处于正确位 置. 图2四极管的标准阳极电路 L 图3四极管的标准帘栅极电路 2 GB7273.3-87 L 图4四极管的标准阴极电路 a”式 “b”式 FA -K “c”式 图5各式三极管的标准阳极电路 3 ...
SJ/T 10866-1996 盘封管电性能测试方法 频率位置的测试方法.pdf
