ICS31.260 L53 备案号： SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11577—2016 SJ/T11394-2009《半导体发光二极管测试 方法》应用指南 Guide on SJ/T11394-2009《Measure methods of semiconductor light emitting diodes》 2016-01-15发布 2016-06-01实施 SJ 中华人民共和国工业和信息化部 发布 2016 ANDARDE ST/T11577—2016 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 请注意本标准的某些内容可能涉及专利.本标准的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本标准由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口. 本标准主要起草单位：广州赛西光电标准检测研究院有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、工业 和信息化部电子工业标准化研究院. 本标准主要起草人：周钢、全 AND SJ STANDARDS I ST/T11577—2016 SJ/T11394-2009《半导体发光二极管测试方法》应用指南 1范围 本标准规定了SJ/T11394一2009《半导体发光二极管测试方法》在实际测量过程中的技术细节. 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必 在ND 期男文件，仅注日期的版本适用于本文件. 是 凡是不注日期的引用文件，最新版本（包括的修改单） 活用 GB/T5698—200 SJ/T113942009 体发光二极管测试方法 TION SJ/T11395—2009 导体照明术语 3术语、定义和符号 ● TECH GB/T5698-2001、SJ/T 394-2009和ST118952009界定的术语、定义 和符鲁适用于本文件. 4测量要求 4.1一般要求 LED电学、光度和度特性测量应在规定的标准测量条件下采用合适的食和测量规程进行.测量 条件包括对实验室和环境条件的要求以及测量设备的要求.测试结果应在标准务件下给出. 测量必须溯源至SI单位.测试报告应包括测量不确定度的声明测量不确定度应以在95% 的置信度下（包含因子k 的打 不确定度的形式给出 测量应在测量条件的最大允 行 义器应斜合4.2的要求.在这种情况下， 就认为测量是在标准条件下完成的. 当测量设备的设计和配置不同于本标准中明确描述的类型时，如其可提供测试数据与本标准规定类 型设备的验证数据等同，该测量设备可被接受. 4.2测量条件 4.2.1标准测量条件 标准测量条件中的允差范围由被测物的工作条件和测量仪器的测量能力共同确定.在设置工作条件 时应根据校准证书修正仪器的读数. 当测量不确定度增大时，可通过缩小标准测量条件的允差范围来满足标准测量条件的要求（参见示 例). 1 ...
SJ/T 11577-2016 SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法应用指南.pdf
