GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）.pdf

ICS31.220.10 L23 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T5095.2502-2021/IEC60512-25-2:2002 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b:衰减（插入损耗） Electromechanical ponents for electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods- Part 25-2:Test 25b:Attenuation (insertion loss) CIEC 60512-25-2:2002 Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 25-2:Test 25b:Attenuation(insertion loss) IDT] 2021-03-09发布 2021-10-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T5095.2502-2021/IEC60512-25-2:2002 目 次 前言 L 1总则 1 1.1范围和目的 1 1.2术语和定义 1 2试验设施 2.1设备 1 2.2装置 3试验样品 2 3.1说明 2 4试验程序 2 4.1装置衰减 3 4.2样品衰减测量 4.3阻抗分析仪（开路/短路法） 4 4.4追加测量 4 4.5时域法 4 5相关标准应规定的细则 6试验记录文件 5 附录A(规范性附录)装置和设备的示意图 附录B(资料性附录)实用指南 10 GB/T5095.2502-2021/IEC60512-25-2:2002 前言 GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分. GB/T5095的第25部分为信号完整性试验，已经发布或计划发布的部分如下： —第25-1部分：试验25a:串扰比： —第25-2部分：试验25b:衰减（插人损耗）； ——第25-3部分：试验25c:上升时间衰减； —第25-4部分：试验25d:传输时延； ——第25-5部分：试验25e:回波损耗； —第25-6部分：试验25f:眼图和抖动； 一——第25-7部分：试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR); ——第25-9部分：信号完整性试验试验25i:外来串扰. 本部分为GB/T5095的第25-2部分. 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本部分使用翻译法等同采用1EC60512-25-2:2002《电子设备用连接器试...