SJ/T 11404-2009 铌酸锂集成光学器件通用规范.pdf

光学,科技,调制器,铌酸锂,其他规范
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ICS33.180 M33 备案号: SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11404—2009 铌酸锂集成光学器件通用规范 General specifications for LiNbO3 integrated optical devices 2009-11-17发布 2010-01-01实施 SJ 中华人民共和国工业和信息化部发布 00 2010 SJ/T114042009 铌酸锂集成光学器件通用规范 1范围 本规范规定了酸钾集成光学器件(以下简称“器件”)所需的质量评定程序、检验要求、筛选、 抽样要求、试验和测量方法的内容. 本规范适用于山酸钾材料制作的强度调制器、相位调制器、光开关以及用于光纤陀螺的波导相 位调制器等,由组酸锂材料制造的具有类似功能的集成光学器件可参照执行. 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款.凡是注山期的引用文件,其随后的 修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本规范,然而,鼓励权据本规范达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本.凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本规范. GB/T191-2000包装储运图示标志 GBT2121电1电子产品环境试验第1部分:总则 GB/T2423.1电[电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温 (BT2423.2电【电了产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温 GBT2423.5电【电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击 GB/T2123.10电1电产品环境试验第2部分:试验方法试验FC和导则:报动(正弦) GB/T2423.1!电L电了产品环境试验第2部分:试验方法试验Fd:宽频带随机报动一一般 要求 GBT2123.22电T.电了产品环境试验第2部分:试验方法试:N:温度变化 GB/T2423.28电厂电子产品环境试验第2部分:试验方法试验T:锡焊 GB/T2828.12003计数抽样检验程序第!部分:按接收质量限(AQ1.)检索的逐批检验抽样计划 GB/T18310.1纤维光学山连器件和无源器件成木试验和测量程序第2-4部分:试验光纤/光缆 保持力 GJB128A-1997半导体分立器件试验方法 GJB4026-2000酸锂集成光学器件通用规范 SJ20869酸钾集成光学波导调制器测试方法 3术语和定义 SJ20869已确立的和下列术语和定义适用于本规范. 3.1 相位调制器phase modulator 利用器件的电光效应,通过外加电场改变波导中传导光波的相位的器件. 3.2 强度调制器intensity modulator 利用器件中的分束器将传导光波分束成两路相光,经过相位调制器改变两束光波的相位差,通过 合束器使输出光强附外加电信号而改变的器件. 1 SJ/T11404-2009 3.3 光开关o...

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