ICS19.100 CCS J04 ge 中华人民共和国国家标雅 GB/T12604.10-2023 代替GB/T12604.10—2011 无损检测 术语第10部分：磁记忆检测 Non-destructive testing-Terminology-Part 10:Magnetic memory testing 2023-05-23发布 2023-05-23实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/T12604.10-2023 目 次 前言 Ⅲ 引言 1范围 .1 2规范性引用文件 1 3术语和定义 附录A(资料性)本文件删除GB/T12604.10一2011的术语10 附录B(资料性)本文件与GB/T12604.10一2011相比增加的术语11 附录C(资料性)本文件与GB/T12604.10一2011相比修改的术语12 参考文献 13 索引 .14 图1磁记忆信号平面显示图 5 图2磁记忆信号时基显示图6 图3磁记忆信号A扫描显示图 7 图4磁记忆信号极坐标显示图7 图5磁记忆信号色斑显示图 8 图6磁记忆信号三维显示图9 图7磁记忆信号管状显示图9 表A.1本文件删除GB/T12604.10一2011的术语10 表B.1本文件与GB/T12604.10一2011相比增加的术语11 表C.1本文件与GB/T12604.10一2011相比修改的术语12 I GB/T12604.10-2023 前 言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草. 本文件是GB/T12604《无损检测术语》的第10部分.GB/T12604已经发布了以下部分： —GB/T12604.1无损检测术语超声检测； —GB/T12604.2无损检测术语射线照相检测； —GB/T12604.3无损检测术语渗透检测； GB/T12604.4无损检测术语声发射检测； GB/T12604.5无损检测术语磁粉检测； GB/T12604.6无损检测术语涡流检测； GB/T12604.7无损检测术语泄漏检测； GB/T12604.8无损检测术语中子检测； GB/T12604.9无损检测术语红外热成像； GB/T12604.10无损检测术语第10部分：磁记忆检测； GB/T12604.11无损检测术语X射线数字成像检测； GB/T12604.12无损检测术语第12部分：工业射线计算机层析成像检测； —GB/T12604.13无...
GB/T 12604.10-2023 无损检测 术语 第10部分：磁记忆检测.pdf
