YDB 122.1-2013 数字移动通信终端通用集成电路卡（UICC）与非接触通信模块（CLF）间主控接口（HCI）测试方法 第1部分：终端特性.pdf

YDB 中国通信标准化协会标准 YDB122.1—2013 通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块 (CLF)间主控接口(HCI)测试方法 第1部分：终端特性 Test method for UICC-CLF HCI protocol Part1:Terminal features (ETSI TS 102 695-1 V8.1.0 Smart Cards;Test specification for the Host Controller Interface (HCI);Part 1:Terminal features MOD) 2013-03-06印发 中国通信标准化协会发布 YDB122.1—2013 目 次 前言. II 1范围... ...1 2规范性引用文件.... .............1 3术语、定义和缩略语... .......1 3.1术语和定义 3.2缩略语.... 2 4测试环境......... 3 4.1厂家需提供的信息... 3 4.2测试设备.... 3 4.3测试执行条件.... 4 4.4通过判定. 4 5测试用例.... 4 5.1HCI架构... 4 5.2HCP.... 8 ....9 5.4端口.... 14 5.5HCI流程.... 19 5.6非接触卡的模拟. 28 I YDB122.1—2013 前言 《通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)测试方法》是通用集成电路 卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间协议和接口系列标准之一，该系列标准名称和结构如下： a)《通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间单线协议(SWP)技术要求》； b)《通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)技术要求》； c)《通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间单线协议(SWP)测试方法》； d)《通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)测试方法》. 《通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)测试方法》分为两个部分： 一一第1部分：终端特性； 一一第2部分：UICC特性. 本部分是《通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)测试方法》的第1 部分. 本部分按照GB/T1.1-2009给出的规则起草. 本部分修改采用ETSI TS102695-1V8.1.0 智能卡；主机控制器接口测试规范第1部分：终端特 性Smart Cards;Test...