JJF 1236-2010 半导体管特性图示仪校准规范 高清完整版.pdf

可可F 中华人民共和国国家计量技术规范 JJF1236-2010 半导体管特性图示仪校准规范 Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers 2010-01-05发布 2010-04-05实施 国家质量监督检验检疫总局发布 JJF1236-2010 半导体管特性图示仪校准规范 Calibration Specification for JJF1236—2010 Semiconductor Device Curve Tracers 本规范经国家质量监督检验检疫总局于2010年1月5日批准，并自 2010年4月5日起施行. 归口单位：全国无线电计量技术委员会 主要起草单位：中国电子技术标准化研究所 参加起草单位：北京无线电仪器厂 上海新建电子仪器有限公司 本规范由全国无线电计量技术委员会负责解释 JJF1236-2010 本规范主要起草人： 陈连启（中国电子技术标准化研究所） 于利红（中国电子技术标准化研究所） 刘冲（中国电子技术标准化研究所） 参加起草人： 蔡福明（北京无线电仪器厂） 徐长风（上海新建电子仪器有限公司） ...