TJF 中华人民共和国国家计量技术规范 JJF1682-2017 光栅式测微仪校准规范 Calibration Specification for Grating Micrometers 2017-11-20发布 2018-05-20实施 国家质量监督检验检疫总局发布 JJF1682-2017 光栅式测微仪校准规范 JJF1682—2017 Calibration Specification for 代替JJG989—2004 Grating Micrometers 归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会 主要起草单位：中国科学院光电技术研究所 中国测试技术研究院 参加起草单位：安徽省计量科学研究院 本规范委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释 JJF1682-2017 本规范主要起草人： 曹学东（中国科学院光电技术研究所） 匡龙（中国科学院光电技术研究所） 冉庆（中国测试技术研究院） 参加起草人： 范天泉（中国科学院光电技术研究所） 马琳（安徽省计量科学研究院） 胡琦（中国科学院光电技术研究所） ...
JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范 高清晰版.pdf
