JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范 高清晰版.pdf

光栅,计量校准,计量检定
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TJF 中华人民共和国国家计量技术规范 JJF1682-2017 光栅式测微仪校准规范 Calibration Specification for Grating Micrometers 2017-11-20发布 2018-05-20实施 国家质量监督检验检疫总局发布 JJF1682-2017 光栅式测微仪校准规范 JJF1682—2017 Calibration Specification for 代替JJG989—2004 Grating Micrometers 归口单位:全国几何量工程参量计量技术委员会 主要起草单位:中国科学院光电技术研究所 中国测试技术研究院 参加起草单位:安徽省计量科学研究院 本规范委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释 JJF1682-2017 本规范主要起草人: 曹学东(中国科学院光电技术研究所) 匡龙(中国科学院光电技术研究所) 冉庆(中国测试技术研究院) 参加起草人: 范天泉(中国科学院光电技术研究所) 马琳(安徽省计量科学研究院) 胡琦(中国科学院光电技术研究所) ...

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