SN/T 5499-2023 矿产品中滑石含量的测定 X射线衍射全谱拟合法.pdf

无机化工产品,残差,其他规范
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ICS71.040.40 CCS D 04 SN 中华人民共和国出入境检验检疫行业标准 SN/T5499—2023 矿产品中滑石含量的测定 X射线衍射全谱拟合法 Determination of talc content in minerals by full spectrum fitting X-ray diffraction method 2023-05-05发布 2023-12-01实施 中华人民共和国海关总署发布 SN/T54992023 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任. 本文件由中华人民共和国海关总署提出并归口. 本文件起草单位:中华人民共和国广州海关、中华人民共和国湛江海关. 本文件主要起草人:宋武元、周君龙、林海、谭朝勤、谭智毅、麦晓霞、田琼、邝杰伟、曲强. I SN/T54992023 矿产品中滑石含量的测定 X射线衍射全谱拟合法 警告:使用本标准的人员应有正规实验室工作的实践经验.本标准并未指出可能的安全问题. 使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法律法规规定的条件. 1范围 本文件规定了一种用X射线衍射全谱拟合法半定量检测矿产品中滑石含量的方法. 本文件适用于滑石含量大于5.0%的矿产品中滑石含量的测定,且样品中矿物物相均可以从 带结构信息的标准卡片库中被准确匹配. 2规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款.其中,注日期的引用文 件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括的修改单)适用于 本文件. GB2007.2散装矿产品取样、制样通则手工制样方法 GB/T30904无机化工产品晶型结构分析X射线衍射法 SN/T4008滑石粉快速定性筛选粉末X射线衍射法 3术语和定义 下列术语和定义适用于本文件. 3.1全谱拟合full spectrum fitting 利用电子计算机程序逐点比较X射线衍射峰衍射强度的计算值和实侧值,用最小二乘法调整这些 结构原子参数与峰形函数,使计算峰形和实测峰形符合的过程. 3.2残差residual 在全谱拟合最小二乘法精修过程中,残差为计算峰形和实测峰形达到最小化的量值M 残差按式 (1)计算. M=∑W2(Y20o-Y(2e)2 (1) 式中: W20——权重因子; Y(2m—观测的强度值; Y(2de—计算的强度值. 3.3加权全谱因子weighted full spectrum factor 表征全谱拟合好坏的因子,用R来表示.R值越低说明残差M越小,全谱拟合效果越好.其 值大小主要受衍射特征峰的背景、峰形对称性、峰形变宽、半峰宽(或峰高)及晶体的几何形状(择优取 1 ...

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