JG 中华人民共和国国家计量检定规程 JJG22—2014 内径千分尺 Internal Micrometers 2014-11-17发布 2015-05-17实施 国家质量监督检验检疫总局发布 JJG22-2014 目 录 引言 (Ⅱ) 1范围 (1) 2引用文件 (1) 3概述 (1) 4计量性能要求 (2) 4.1测头测量面的曲率半径 (2) 4.2测量面的表面粗糙度(2) 4.3刻线宽度及宽度差 (2) 4.4微分筒锥面棱边至固定套管刻线面的距离 (2) 4.5微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置(2) 4.6测微头锁紧装置锁紧和松开时的示值变化 (2) 4.7数值漂移 (2) 4.8数显值与微分筒读数的一致性(2) 4.9示值误差 (2) 4.10刚性引起长度尺寸的变化 (3) 4.11校对用的卡规示值误差和两工作面的平行度(3) 5通用技术要求 (4) 5.1外观 (4) 5.2各部分相互作用(4) 6计量器具控制 (4) 6.1检定条件 (4) 6.2检定项目和检定设备 (4) 6.3检定方法 (5) 6.4检定结果处理 (8) 6.5检定周期 (8) 附录A测微头与接长杆的组合方式举例 (9) 附录B内径千分尺示值误差测量结果的不确定度评定(10) 附录C测长机配合激光干涉仪测量示值误差的说明(13) 附录D检定证书/检定结果通知书内页信息及格式(14) JJG22-2014 引言 JJF1002一2010《国家计量检定规程编写规则》、JJF1001一2011《通用计量术语及 定义》、JJF1059.1一2012《测量不确定度评定与表示》、JJG22一2003《内径千分尺检 定规程》（以下简称原规程）共同构成本规程修订工作的基础性系列计量技术法规. 本规程是对JJG22一2003的修订.与JJG22一2003相比，除编辑性修改外主要技 术变化如下： ——依据GB/T22093一2008《电子数显内径千分尺》和GB/T8177一2004《两点 内径千分尺》，新增加了电子数显装置的“数值漂移”和“数显值与微分筒读数的一致 性”检定项目，同时增加对应项目的技术要求及检定方法. ——依据GB/T8177一2004《两点内径千分尺》，修改“刻线宽度及宽度差”在不 同固定套管直径为同一要求. ——修改“测微头的示值误差及锁紧装置锁紧和松开时的示值变化”中测微头的示 值误差要求. —一修改“测微头与接长杆的组合尺寸”为“示值误差”，使用中检查为可不检查. 一一依据GB/T8177一2004《两点内径千分尺》，修改了“示值误差”和“刚性引 起长度尺寸的变化”的技术要求. 本规程的历次版本发布情况为： JJG22—2003 JJG22—1991 JJG22—1981 JJG22-75 Ⅱ ...
正式版 JJG 22-2014 内径千分尺.pdf
