ICS31.200 L56 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T14028—2018 代替GB/T14028一1992 半导体集成电路 模拟开关测试方法 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of analogue switch 2018-03-15发布 2018-08-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 14028-2018 目 次 前言 I 1范围 2规范性引用文件 3术语和定义 1 4总则 2 4.1测试环境要求 2 4.2测试注意事项 3 4.3电参数符号 3 5参数测试 4 5.1模拟电压工作范围(VA) 5.2导通电阻(Ro) 5 5.3导通电阻路差（△Rn) 6 5.4截止态漏极漏电流[Ion]6 5.5截止态源极漏电流[Iso0] 7 5.6导通态漏电流[Ips(on)] ....8 5.7开启时间(ton) 9 5.8 关断时间(to) 11 5.9 通道转换时间(tr) 12 5.10最高控制频率(fcv) 13 5.11 截止态隔离度(K OIRR) 14 5.12 截止态馈通频率(f) 15 5.13导通态串扰衰减[axo] 16 5.14输入串扰衰减[ax(N)] 17 5.15控制信号串扰(Vc) 18 5.16导通电阻路差率(R ON Match) 18 5.17导通电阻温度漂移率(RON Drift)19 5.18通道转换无效输出时间() 19 5.19电荷注入量(QN) 21 GB/T14028-2018 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本标准代替GB/T14028一1992《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》，与GB/T14028一 1992相比主要技术变化如下： ——增加了导通电阻路差率、导通电阻温度漂移率、通道转换无效输出时间、电荷注入量4项测试 方法（见5.16、5.17、5.18、5.19）； —修改了第4章中对测试规定的说明； —修改了全文图、表的表述形式； —修改了“通道转换时间”测试方法中转换对象“十1”为“”； —增加了对“截止态漏极漏电流”测试方法中未定义的多路模拟开关测试说明； —修改了“通道转换时间测试方法”测试方法中存在图文歧义的10%含义. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本标准由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口. 本标准起草单位：中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微电子（北京）股份有限 公司、西北工业大学. 本标准主要起草人：张冰、李雷、陈志培、闫辉、朱华、黄德东. ...
GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法.pdf
