GB/T 17554.2-2015 识别卡 测试方法 第2部分:带磁条的卡.pdf

国际标准化组织,清漆漆膜的划格试验,其他规范
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ICS35.240.15 L64 GB 中华人民共和国国家标雅 GB/T17554.2-2015/ISO/IEC10373-2:2006 识别卡测试方法 第2部分:带磁条的卡 Identification cards-Test methods-Part 2:Card with magnetic stripes (ISO/IEC10373-2:2006 IDT) 2015-05-15发布 2016-01-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T17554.2-2015/ISO/IEC10373-2:2006 目 次 前言 I 1范围 2规范性引用文件 1 3术语和定义 4测试方法的默认条款 4.1测试环境 N 4.2预处理 4 4.3测试方法的选择 4 4.4默认容差 4 4.5总度量的不确定度 4 5测试方法 4 5.1磁条区域的翘曲 4 5.2磁条的高度和表面轮廓6 5.3磁条的表面粗糙度 9 5.4磁条的耐磨性测试 10 5.5幅度测量 11 5.6磁通翻转间距变化 18 5.7磁条黏合力 18 5.8静磁特性 .19 5.9波形U6 21 5.10高矫顽力高密度覆写 21 附录A(资料性附录)测试头磨损的影响和抗磨损测试头的使用23 GB/T17554.2-2015/ISO/IEC10373-2:2006 前言 GB/T17554《识别卡测试方法》拟分为如下部分: —第1部分:一般特性测试; —第2部分:带磁条的卡; 一第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备; —第5部分:光记忆卡; —第6部分:接近式卡; —第7部分:邻近式卡. 本部分为GB/T17554的第2部分. 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本部分使用翻译法等同采用ISO/IEC10373-2:2006《识别卡测试方法第2部分:带磁条的 卡》. 与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下: —GB/T131一2006产品几何技术规范(GPS)技术产品文件中表面结构的表示法 (ISO1302:2002 IDT); —GB/T9286一1998色漆和清漆漆膜的划格试验(egv ISO2409:1992). 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本部分由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)归口. 本部分起草单位:中国电子技术标准化研究院、云南南天电子信息产业股份有限公司、山东省标准 化研究院. 本部分主要起草人:夏娣娜、段霞、冯敬、金倩、杨扬、耿力、乔申杰、袁理、王文峰. I ...

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