ICS33.100 L06 GE 中华人民共和国国家标准 GB/T17626.22-2017/IEC61000-4-22:2010 电磁兼容试验和测量技术 全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量 Electromagnetic patibility(EMC)-Testing and measurement techniques-Radiated emissions and immunity measurements in fully anechoic rooms(FARs) [IEC 61000-4-22:2010 Electromagnetic patibility (EMC)- Part 4-22:Testing and measurement techniques-Radiated emissions and immunity measurements in fully anechoic rooms(FARs) IDT] 2017-12-29发布 2018-07-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T17626.22-2017/IEC61000-4-22:2010 目 次 前言 Ⅲ 1范围 2规范性引用文件 3术语和定义 1 4应用FAR测量的被测量 3 4.1辐射抗扰度试验的被测量 3 4.2辐射发射测量的被测量 3 5FAR场地确认/校准程序 3 5.1概述 3 5.2FAR场地确认/校准的配置3 5.3试验设备和设施的基本特性 7 5.3.1概述 7 5.3.2试验空间 7 5.3.3 宽带天线 7 5.3.4天线的连接电缆 7 5.3.5试验台/桌 .7 5.3.6转台 7 5.3.7天线极化自动变换器 7 5.3.8吸波材料布置 .7 5.4FAR确认程序所确定的量的定义 5.5FAR确认时的取样位置 8 5.6FAR确认程序 .9 5.6.1概述 9 5.6.2配置类型1的确认 ...10 5.6.3配置类型2的确认 10 5.6.4配置类型3的确认10 5.6.5 配置类型4的确认 .11 5.6.6配置类型的C和sB.c的计算11 5.7确认要求 11 6试验布置 12 附录A(规范性附录)辐射抗扰度试验 15 附录B(规范性附录)辐射发射测量 .19 附录C(资料性附录)有关系统转换系数和一次性完成的发射确认/抗扰度校准方法的背景知识22 附录D(资料性附录)测量不确定度 24 参考文献 36 I GB/T17626.22-2017/IEC61000-4-22:2010 图1类型1的确认/校准框图 4 图2类型2的确认/校准框图 4 图3类型3的确认/校准框图 .5 图4类型4的确认/校准框图 5 图5用于FAR确认的取样点的位置示意图 9 图6台式设备的试验布置示例 12 图7台式设备的试验布置示例俯视图 13 图8落地式设备的试验布置示例 13 图9落地式设备的试验布置示例俯视图 14 图A.1抗扰度试验中dm的定义 .16...
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