GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法.pdf

ICS31.200 L56 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of low voltage differential signaling circuitry 2018-03-15发布 2018-08-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T35007-2018 目 次 前言 Ⅲ 1范围 2规范性引用文件 3术语和定义 1 4总则 2 4.1测试环境要求 2 4.2测试注意事项 2 5静态参数测试 2 5.1单端数字接口参数 2 5.2输入高电平阈值电压(VTH) 2 5.3输入低电平阈值电压(V) 3 5.4输入电流(IN) 4 5.5电源关断输入漏电流(IN-oFF) 5 5.6输出LVDS高电压(VoH) 6 5.7输出LVDS低电压(Vo) 5.8共模输出电压(Vos) .8 5.9互补态共模输出电压变化（△Vos)8 5.10差分输出电压(VoD) 9 5.11互补态差分输出电压变化（△Vo)9 5.12LVDS输出短路电流(Ios) 10 5.13电源关断输出漏电流(Io-oF) 11 5.14 LVDS输出高阻态电流(Ioz.) 12 5.15 内置差分输入电阻(Rm) 13 5.16 内置差分输出电阻(RoT) 13 5.17静态电源电流(Ip) 14 5.18关断电源电流(IDz) 15 6动态参数测试 16 6.1输入电容(C1)和输出电容(Co) .16 6.2动态电源电流(IDDA) 18 6.3最高工作频率(fMAx) .18 6.4最低工作频率(fMiN) 19 6.5最大数据率(DR MAX) 20 6.6输出由低电平到高电平传输延迟时间(tpn) 20 6.7输出由高电平到低电平传输延迟时间(tH)22 6.8输出由高阻态到高电平传输延迟时间(tpzH) 22 6.9输出由高阻态到低电平传输延迟时间(t)24 6.10输出由高电平到高阻态传输延迟时间(PHz) 24 I GB/T350072018 6.11输出由低电平到高阻态传输延迟时间(tpz) 25 6.12输出由低电平到高电平转换时间(lTH) 25 6.13输出由高电平到低电平转换时间(tTHL) 27 6.14 脉冲时滞(tsKp) .27 6.15 通道间时滞(so) 28 6.16 眼图高度(eH) 28 6.17 眼图宽度(ew) 29 6.18 确定性抖动(D) 30 6.19随机抖动(R) 30 6.20总抖动(J) 31 附录A(资料性附录)眼图测试对仪器的要求32 Ⅱ ...