ICS31-030 L90 GB 中华人民共和国国家标雅 GB/T5594.3-2015 代替GB/T5594.3一1985 电子元器件结构陶瓷材料 性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic ponents and device- Part 3:Test method for mean coefficient of linear expansion 2015-05-15发布 2016-01-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T5594.3-2015 前言 GB/T5594《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法》的结构如下： —气密性测试方法(GB/T5594.1); 杨氏弹性模量泊松比测试方法(GB/T5594.2); 第3部分：平均线膨胀系数测试方法(GB/T5594.3); —第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法(GB/T5594.4); 体积电阻率测试方法(GB/T5594.5); 第6部分：化学稳定性测试方法(GB/T5594.6); —第7部分：透液性测定方法(GB/T5594.7); —第8部分：显微结构测定方法(GB/T5594.8); —电击穿强度测试方法(GB/T5594.9). 本部分为GB/T5594的第3部分. 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本部分代替GB/T5594.3一1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试 方法》. 本部分与GB/T5594.3一1985相比，主要有下列变化： ——标准名称改为：“电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分：平均线膨胀系数测试方 法”； —4.1测试样品改为3.5×50mm; —一4.2套管和传递杆的材料从石英玻璃变化为石英玻璃或高温氧化铝陶瓷； —4.4测量范围从室温至800℃变化为室温至1200℃； —4.5线膨胀系数单位改为K-1. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本部分由中国电子技术标准化研究院归口. 本部分起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所、河南济源兄弟材料有限公司、浙江温岭特 种陶瓷厂. 本部分主要起草人：高陇桥、黄国立、胡菊飞. 本部分所代替标准的历次版本发布情况为： —GB/T5594.3—1985. GB/T5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料 性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法 1范围 GB/T5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系数测试的样品、测试设备、测试方法及报告 格式. 本部分适用于电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系数的测试. 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件.凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适用于本文件. GB/T5593一2015电子元器件结构陶瓷材料 GB/T9530一1988电子陶瓷名词术语 3术语和定义 GB/T9530一1988界定的以及下列术语和定义适用于本文件. 3.1 线膨胀系数coefficient of linear expansion 在一定温度范围内，温度变化1K试样线性尺寸的相对变化值.常用式(1)表示： l.-lo a-lo(t-to) (1) 式中： a—...
GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法.pdf
