ICS31-030 L90 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T5593—2015 代替GB/T5593—1996 电子元器件结构陶瓷材料 Structure ceramic materials used in electronic ponent and device 2015-05-15发布 2016-01-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 o 中国国家标准化管理委员会 治高快 GB/T5593-2015 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本标准代替GB/T5593一1996《电子元器件结构陶瓷材料》. 本标准与GB/T5593一1996相比，主要有下列变化： ——表1中作如下修改： 对A-95、A-99增加了硬度性能要求；增加了测试A-95、A-99硬度方法的规范性附录A; B-97替代B-95;B-97、B-99两者B=0组分含量均为最低值；“单位与符号”改为“单位”；线膨胀 系数单位/℃改为K1;晶粒大小μ改为rm;A-95的晶粒大小从15μm~30um改为8um~ 20μm;B-9720℃~500℃线膨胀系数7~8改为7.0~8.5；B-97 B-99中平均晶粒大小改为 12μm~30μm;B-97中导热系数20℃改为200W/(mK) 100℃改为160W/(mK); B-99中导热系数20℃改为230W/(mK) 100℃改为180W/(MK); 5.8抗热震性的测定持续时间从30min改为10min; ——表2中作如下修改： 部分测试样品尺寸，将氧化铝瓷和氧化铍瓷分别对待；气密性样品厚度从0.25mm士0.02mm改为 0.30mm士0.02mm. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本标准由中国电子技术标准化研究院归口. 本标准起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所、湖南新化鑫星电子陶瓷有限公司、江苏常 熟银洋陶瓷器件有限公司、河南济源兄弟材料有限公司、浙江绍兴富尔全瓷业有限公司、浙江温岭特种 陶瓷厂. 本标准主要起草人：高陇桥、曹培福、高永泉、黄国立、王立夫、徐正平、李晓英. 本标准所代替标准的历次版本发布情况为： —GB5593—1985、GB/T5593—1996 I GB/T5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料 1范围 本标准规定了电子元器件结构陶瓷的种类、级别、技术指标要求、试验方法和检验规则. 本标准适用于电子元器件用结构陶瓷材料. 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件.凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适用于本文件， GB/T1031一1995表面粗糙度参数及其数值 GB/T1966多孔陶瓷显气孔率、容重试验方法 GB/T2413压电陶瓷材料体积密度测量方法 GB/T2421.1电工电子产品环境试验概述和指南 GB/T5594.1电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法 GB/T55942电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量泊松比测试方法 GB/T5594.3电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分：平均线膨胀系数测试方法 GB/T55944电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分：介电常数和介质损耗角正切 值的测试方法 GB/T5594.5电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法 GB/T5594.6电子元器件结构陶瓷材料性能测试方...
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