ICS31-030 L90 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T5594.6—2015 代替GB/T5594.6—1985 电子元器件结构陶瓷材料 性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法 Test methods for properties of structure ceramics used in electronic ponent and device- Part 6:Test method for chemical durability 2015-05-15发布 2016-01-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T5594.6-2015 前言 GB/T5594《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法》分为以下部分： —气密性测试方法(GB/T5594.1); —杨氏弹性模量泊松比测试方法(GB/T5594.2); —第3部分：平均线膨胀系数测试方法(GB/T5594.3); —第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法(GB/T5594.4); —体积电阻率测试方法(GB/T5594.5); —第6部分：化学稳定性测试方法(GB/T5594.6); —第7部分：透液性测定方法(GB/T5594.7); 一—第8部分：显微结构测定方法(GB/T5594.8); -电击穿强度测试方法(GB/T5594.9). 本部分为GB/T5594的第6部分. 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本部分代替GB/T5594.6一1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法化学稳定性测试方 法》. 本部分与GB/T5594.6一1985相比，主要有下列变化： —标准名称改为：“电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第6部分：化学稳定性测试方法”； 在“6.1.1”中，将测试样品数量由原来的2个修改为3个，增加了“选择无气孔、无裂纹及无其他 缺陷的试样”； 一在“6.1.2”中，修改了“皂片溶液”为“去污粉”； 一在“6.2.3”中，修改了“甘油溶液作为水浴锅加热溶液”为“蒸馏水作为水浴锅加热溶液”； —在“7.1”和“7.2”中，将试样重量修改为质量，符号由G修改为m 计算公式相应修改. ——增加了“8测试结果及报告”. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本部分由中国电子技术标准化研究院归口. 本部分起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所、北京七星飞行电子有限公司. 本部分主要起草人：何晓梅、曾桂生、何诗静. 本部分所代替标准的历次版本发布情况为： ——GB/T5594.6—1985. I GB/T5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料 性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法 1范围 GB/T5594的本部分规定了电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化皱等陶瓷材料化学稳定性的测 试方法. 本部分适用于电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍等陶瓷材料化学稳定性的测试. 本部分不适用于测定镁橄榄石、莫来石、滑石等陶瓷材料的化学稳定性. 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件.凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括的修改单）适用于本文件. GB/T9530一1988电子陶瓷名词术语 3术语和定义 GB/T9530一1988界定的以及下列术语和定义适用于本文件. 3.1 化学稳定性chemical stability 表...
GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法.pdf
