QJ 10005-2008 宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南.pdf

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QJ 中华人民共和国航天行业标准 FL6100 QJ10005—2008 宇航用半导体器件重离子单粒子效应 试验指南 Test guidelines of single event effects induced by heavy ions of semiconductor devices for space applications 2008一02一16发布 2008一06一01实施 国防科学技术工业委员会发布 QJ10005—2008 目 次 前言 u 1范围 1 2规范性引用文件 3术语和定义 4一般要求 2 4.1试验单位 2 4.2试验人员要求 12 4.3仪器与设备 2 4.4试验环境. 2 4.5总剂量效应影响的考虑 .2 4.6辐射安全和辐射防护 .2 4.7不确定度分析 3 4.8文件. 3 5试验方法 3 5.1试验目的 5.2试验原理 3 5.3试验设备. 5.4试验程序 5.5试验报告 .8 附录A(资料性附录)宇航用半导体器件重离子单粒子试验方案格式9 附录B(资料性附录)宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验报告格式. 11 附录C(资料性附录)HI一13串列静电加速器和回旋加速器HIRFL 13 附录D(资料性附录)在轨单粒子事件率预示 15 I QJ10005-2008 前言 本指导性技术文件的附录A、附录B、附录C和附录D为资料性附录. 本指导性技术文件由中国航天科技集团公司提出. 本指导性技术文件由中国航天标准化研究所归口. 本指导性技术文件起草单位:中国航天科技集团公司第五研究院物资部、中国航天标准化研究所. 本指导性技术文件主要起草人:于庆奎、唐民、朱恒静、孟猛、管长才、蔡娜、周倜、王敬贤. II ...

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