JF 中华人民共和国国家计量技术规范 JJF1236—2010 半导体管特性图示仪校准规范 Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers 2010一01-05发布 2010-04-05实施 国家质量监督检验检疫总局发布 JJF1236—2010 半导体管特性图示仪校准规范 Calibration Specification for JJF1236—2010 Semiconductor Device Curve Tracers 本规范经国家质量监督检验检疫总局于2010年1月5日批准,并自 2010年4月5日起施行. 归口单位:全国无线电计量技术委员会 主要起草单位:中国电子技术标准化研究所 参加起草单位:北京无线电仪器厂 上海新建电子仪器有限公司 本规范由全国无线电计量技术委员会负责解释 JJF1236—2010 本规范主要起草人: 陈连启(中国电子技术标准化研究所) 于利红(中国电子技术标准化研究所) 、刘冲(中国电子技术标准化研究所) 参加起草人: 蔡福明(北京无线电仪器厂) 徐长风(上海新建电子仪器有限公司) ...