SJ/T 11845.3-2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管.pdf

ICS31.080.10 CCS L41 SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T11845.3—2022 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性 评价方法 第3部分：二极管 Reliability evaluation methods for electronic ponents and devices based on low frequency noise Part 3:Diode 2022-10-20发布 2023-01-01实施 SJ 中华人民共和国工业和信息化部发布 FANDANOO SJ/T11845.3-2022 目次 前言 I 1范围. .1 2规范性引用文件... 3术语和定义 .1 4一般要求.. ...1 5详细要求.. .1 5.1噪声等级. ....1 5.2噪声测试的技术要求. ..1 5.3评价方法.. .2 6方法应用..... 3 6.1设计及工艺稳定性评价 ..3 6.2批次一致性分析及筛选. 3 SJ/T11845.32022 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规 定起草. 本文件是《基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法》的第3部分. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本文件由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组提出并归口. 本文件起草单位：济南市半导体元件实验所、四安电子科技大学、工业和信息化部电子第五研究所、 芜湖赛宝信息产业技术研究院有限公司 东圳市科技有限公 Ao 本文件主要起草人：郭美洋 包军杯、余永涛、 季萍、李兆成、孙立军. INDUSTR HO MATION TECHNOL SJ STANDARDSI ...