正式版 GB/T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法.pdf

ICS31.200 CCS L56 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T42848—2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 Semiconductor intergrated circuits- Test method of direct digital frequency synthesizer 2023-08-06发布 2023-12-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/T42848-2023 目 次 前言 Ⅲ 1范围 1 2规范性引用文件 1 3术语和定义 1 4总则 3 4.1测试环境3 4.2测试注意事项 3 4.3相关文件 3 5静态参数 3 5.1逻辑输入高电平电压Vm .3 5.2逻辑输人低电平电压Vn.4 5.3逻辑输出高电平电压VoH 5 5.4逻辑输出低电平电压Vo 6 5.5逻辑输入高电平电流Im7 5.6逻辑输入低电平电流In 5.7增益误差Ec8 5.8积分非线性INL 10 5.9微分非线性DNL .11 5.10满幅输出电流Is12 5.11输出失调电流Ioo 5.12电压适应范围VpAc 13 5.13时钟输入偏置电压V14 6动态参数测试 .....15 6.1建立时间tsu .15 6.2保持时间tH15 6.3输出电容Co 6.4时钟输入频率fREFCLK ...16 6.5时钟输入幅度VREFCLK 17 6.6输出宽带无杂散动态范围SFDRw .18 6.7输出窄带无杂散动态范围SFDRN19 6.8通道隔离度ISOCH 20 6.9通道间输出幅度匹配误差△AcH22 6.10通道间相位差△PcH 22 1 GB/T42848—2023 6.11 相位噪声 23 6.12噪声功率谱密度 24 6.13功耗Pw 25 6.14电源电流Icc 27 Ⅱ ...