SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法.pdf

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ICS31.200 L55 备案号: SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T10805—2018 代替SJ/T10805—2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法 Semiconductor integrated circuits Measuring methods for voltage parators 2018-02-09发布 2018-04-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 SJ/T108052018 目次 前言 Ⅲ 1范围 2规范性引用文件 3符号 4一般要求 5详细要求 5.1输入失调电压 5.2 输入失调电压温度系 avio 4 5.3 输入失调电流 lo 5.4 输入失调电流温度系 6 5.5 输入偏置电流 IB- 5.6 输入扁宏电流温度系 5.7 静态功PD SJ TECH 8 9 5.8开环电压增益AvD 11 5.9共模抑刮比KCMR 12 5.10最木共模输入电压 5.11 电源电乐抑制比Ks OL ....15 .15 5.12 最大差命入电压 17 5.13 输出高电平中压VoH .17 5.14 输出低电平电压! ..18 5.15 高电平输出电流IoH ..19 5.16 低电平输出电流o 19 5.17 开环差模输入电阻 20 5.18 开环单端输出电阻Rs 5.19 控制端值电压Vr NDARD 21 22 5.20 控制端电流Ic 22 5.21 输出漏电流enk 23 5.22 输出吸入电流Isink 24 5.23 响应时间r、td、td、△t 25 5.24 锁存延迟时间ta(L) 26 附录A(规范性附录)电参数符号 28 I SJ/T108052018 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草. 本标准代替SJ/T10805一2000《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》. 本标准与SJ/T10805一2000相比主要变化如下: a)“一般要求”巾增加了“测试期间,被测器件输入和输出应处于确定状态”的要求(见第4章); b)“详细要求”中按照GB/T4728的要求重新对测试原理图的图形符号进行了编制(见第5章); )增加“控制端阀值电压”、“控制端电流”、“输出漏电流”、“输出吸入电流”、“锁存 延迟时间”的测试方法(见5.19~5.22、5.24). 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任. 本标准由全国集成电路标准化分技术委员会(SAC/TC78/SC2)归口. 本标准起草单位:中国电了技术标准化研究院、中国电了科技集团公司第二十四研究所、中国航 天科技集团公司第九研究院第七七一研究所. 本标准主要起草人:李银、钟英峻、闫永超. 本标准所代替的历次版本发布情况为:SJ/T108052000. II ...

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