ICS31.140 CCS L 21 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T22319.6—2023/IEC60444-6:2021 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量 Measurement of quartz crystal unit parameters- Part 6:Measurement of drive level dependence (DLD) (IEC60444-6:2021 IDT) 2023-09-07发布 2024-01-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T22319.6-2023/IEC60444-6:2021 目 次 前言 Ⅲ 引言 1范围 2规范性引用文件1 3术语和定义 1 4DLD效应1 4.1频率和电阻的可逆变化 1 4.2频率和电阻的不可逆变化1 4.3DLD效应的原因 5DLD测量的激励电平 2 6试验方法 3 6.1方法A(快速标准测量方法) 3 6.2方法B(多电平基准测量方法) 4 附录A(规范性)石英晶体元件的激励电平和机械位移之间的关系6 附录B(规范性)方法C:使用振荡器法测量DLD 8 参考文献 12 图1电阻R12或R13随激励电平相关性变化的最大允许电阻比3 图B.1振荡器中的晶体元件的接人 8 图B.2晶体元件损耗电阻随耗散功率的变化关系 8 图B.3石英晶体元件R 的特性 9 图B.4电路系统方框图10 图B.5在扫描激励电平范围内建立的一Rs10 图B.6在本附录试验中将一R=70作为试验限值时石英晶体元件的激励电平特性10 图B.7方法C测量电路原理图11 GB/T22319.6-2023/IEC60444-6:2021 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草. 本文件是GB/T22319《石英晶体元件参数的测量》的第6部分.GB/T22319已发布了以下部分： —第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量； —第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量； ——第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具； 一第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量； 一第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准 方法. 本文件等同采用IEC60444-6:2021《石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性(DLD) 的测量》. 请注意本文件的某些内容可能涉及专利.本文件的发布机构不承担识别专利的责任. 本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出. 本文件由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口. 本文件起草单位：郑州原创电子科技有限公司、北京晨晶电子有限公司、武汉海创电子股份有限 公司. 本文件主要起草人：王国军、宫桂英、毛晶. ...
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