ICS33.100.01;33.100.20 CCS L06 GB 中华人民共和国国家标准化指导性技术文件 GB/Z17626.33-2023/IEC61000-4-33:2005 电磁兼容试验和测量技术 第33部分：高功率瞬态参数测量方法 Electromagnetic patibility-Testing and measurement techniques- Part 33:Measurement methods for high-power transient parameters CIEC 61000-4-33:2005 Electromagnetic patibility(EMC)-Part 4-33: Testing and measurement techniques-Measurement methods for high-power transient parameters IDT 2023-05-23发布 2024-06-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 发布 GB/Z17626.33—2023/IEC61000-4-33:2005 目 次 前言 Ⅲ 引言 V 1范围 1 2规范性引用文件 .....1 3术语和定义 .2 4高功率瞬态响应的测量3 4.1总体测量概念和要求 .3 4.2测得响应的表述 5 4.3测量仪器 5 4.4测量程序 16 5低频响应的测量16 6校准程序 16 6.1整个测量通道的校准 16 6.2测量通道单元的单独校准18 6.3近似校准技术 22 附录A(规范性)对测得响应特性的描述方法 25 附录B(资料性)测量传感器的特性 29 附录C(规范性)HPEM测量程序 40 附录D(资料性)测量链路单元的双端口表达法42 参考文献 47 图1测量高功率瞬态响应的典型测量链路示例4 图2平衡的传感器和电缆连接到不平衡（同轴）线的示例8 图3几种简单巴伦的例子 9 图4测量链路中在线衰减器的典型电路 9 图5用于500系统的额定值为20dB的衰减器典型衰减示例（作为频率的函数）10 图6串联积分器的典型电路图 10 图7积分电路的传递函数 11 图8标准和半精制同轴电缆随频率变化的单位长度信号传输特性的示例 12 图9传感器电缆在不含电磁场的区域走线的示例 .13 图10在有电磁场的区域对传感器电缆的处理14 图11使电缆适应系统局部屏蔽的拓扑 15 图12电缆走线的正确和错误方法15 I GB/Z17626.33-2023/IEC61000-4-33:2005 图13用于传感器校准提供均匀场照射的双端TEM小室 17 图14单端TEM小室及其相连设备示意图 17 图15用于校准传感器的小尺寸测试设备尺寸图 18 图16测量链的电气示意图 19 图...
正式版 GB/Z 17626.33-2023 电磁兼容 试验和测量技术 第33部分：高功率瞬态参数测量方法.pdf
