JB/T 6267-2013 立式测长仪.pdf

JB,计数抽样检验程序,其他规范
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ICS 37.020 备案号:44294-2014 中华人民共和国机械行业标准 JB/T6267-2013 代替JB/T6267-1992 立式测长仪 Vertical metroscope 2013-12-31发布 2014-07-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布
JB/T 6267-2013 目次 前言..... Ⅱ 1范围... 2规范性引用文件.. 3基本参数. 1 4要求. 4.1主要技术指标. 2 4.2外观及各部分相互作用, 2 4.3电气安全性能. .2 4.4数字显示系统的抗干扰性 3 4.5运输环境条件.. 3 5试验方法... 3 5.1试验条件.. 5.2绝对测量的准确度 3 5.3测量轴多次移动时的示值重复性 5.4数字显示系统的细分误差, 5.5测量轴升降的直线度, 5 5.6测量轴线对工作台面的垂直度, 5 5.7 测杆在径向受力2N时的示值变化 6 5.8 测量力的一致性. 7 5.9 带筋工作台台面的平面度, 7 5.10 仪器连续工作2h时间内,示值的漂移量 7 5.11 仪器外观及各部分相互作用.. 7 5.12 电气安全性能.. 7 5.13 数字显示系统的抗干扰性. 8 5.14运输环境条件.. .9 6检验规则. 6.1检验分类. .9 6.2出厂检验(即交货检验) 6.3型式检验 7标志、包装、运输和贮存. 10 7.1标志.. 10 7.2包装.. 10 7.3运输.. 10 7.4贮存.. 10
JB/T6267-2013 前言 本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草. 本标准代替JB/T6267-1992《立式测长仪》,与JB/T6267-1992相比主要技术变化如下: 一删除了光学读数式仪器和激光仪器的内容; ,,中 一增加了可提供的附件清单; 一增加了对数字显示系统细分准确度的要求和试验方法; 一增加了电气安全性能的耐压、泄漏电流和接地电阻的要求和试验方法; 一增加了对数字显示系统的抗干扰性要求和试验方法. 本标准由中国机械工业联合会提出. 本标准由全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC103)归口. 本标准起草单位:贵阳新天光电科技有限公司、上海理工大学、贵州省光学测量工程技术研究中心、 宁波永新光学股份有限公司、南京江南永新光学有限公司、南京东利来光电实业有限公司、宁波市教学 仪器有限公司、宁波华光精密仪器有限公司、梧州奥卡光学仪器公司、宁波舜宇仪器有限公司、广州粤 显光学仪器有限责任公司、麦克奥迪实业集团有限公司、重庆光电仪器有限公司. 本标准主要起草人:胡清、冯琼辉、彭卫建、曾丽珠、李晞、杨广烈、王国瑞、徐利明、张景华、 胡森虎、李弥高、肖倩、夏硕. 本标准所代替标准的历次版本发布情况为: -JB/T 6267-1992. IⅡI
JB/T6267-2013 立式测长仪 1范围 本标准规定了仪器的基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存. 本标准适用于带有长度基准,具有垂直测量轴,采用接触测量方式,测量精密零件尺寸的立式测长 仪(以下简称仪器). 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件. 凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括的修改单)适用于本文件. GB/T2828.1计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T2829周期检测计数抽样程序及表(适用于对生产过程稳定性的检查) GB/T 2831 1光学零件的面形偏差 GB/T13384机电产品包装通用技术条件 GB/T25480仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法 JB/T7401平面平品 JB/T9342-1999光学计量仪器用测帽 3基本参数 仪器的基本参数应符合表1规定. 表1 序号 项 单位 参数 绝对测量 0~100 1 测量范围 mm 比较测量 0~200 2 分辨力 μm 0.1 3 测量力 N 2.5 4 工作台最大承载质量 kg 10 8mm平面测帽、多筋工作台、球面测帽、三 附件配置 筋工作台、刃形测帽、下置平面测帽、小平面测帽、 (所列附件根据用户需求,应能全部或部分提供) 下置球面测帽、14mm大平面测帽、侧托架
JB/T 6267-2013 4要求 4.1主要技术指标 仪器的主要技术指标应符合表2的规定. 表2 项 单位 指标 1 绝对测量的准确度不低于 μm 1 100 2 测量轴多次移动时的示值重复性≤ μm 0.2 3 数字显示系统的细分准确度不低于 μm 0.6 4 测量轴升降的直线度公差 15 5 测量轴轴线对工作台面的垂直度公差 () 1 测量轴在径向受力2N时所引起的示 6 受力时 μm 0.2 值变化 > 力去除后 ...

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