UDC_681.785.3 N05 中华人民共和国国家标准 GB/T14077-93 双折射晶体和偏振器件测试规范 Measurement specification for birefractance crystal and polarizer 1993-02-06发布 1993-08-01实施 国家技术监督局发布
中华人民共和国国家标准 双折射晶体和偏振器件测试规范 GB/T 14077-93 Measurement specification for birefractance crystal and polarizer 1主题内容与适用范围 本标准规定了双折射晶体和透射型偏振器件在0.25～1.7μm光谱区内主要光学参数的测试方 法. 本标准适用于光学、光电子学和激光技术中对双折射晶体的光谱透射曲线和均匀性的测试，以及对 偏振器件的消光比、偏离角和光辐射损伤阔值的测试. 2引用标准 GB3102.6光及有关电磁辐射的量和单位 3晶体材料的光学参数测试 3.1光谱透射曲线 3.1.1测试装置 采用UV-VIS-IR光谱光度计或者波长范围合适的类似装置.应附带一个样品夹持架，该架可绕其 水平轴旋转. 3.1.2样品制备与测试 3.1.2.1将冰州石晶体毛坏沿解理面（1011）剖开，并抛光成光学表面，其厚度应小于10mm. 3.1.2.2首先将测试装置的波长鼓调至550nm附近，然后将样品置于测量光束中，这时可看到分开 的两束光，这时转动夹持架，直到两束光都进入狭缝为止. 3.1.2.3在200～2000nm波长范围内进行光谱扫描，获得一条完整的光谱透射曲线. 3.1.3数据处理 在光谱透射图中，透射比大于或等于0.3的波长区，规定为该晶体的可应用光谱区. 3.2光学均匀性 3.2.1光学均匀性测试装置 测试装置使用如图1所示台曼-格林干涉仪，或等精度仪器. 国家技术监督局1993-02-06批准 1993-08-01实施 1
GB/T 14077-93 图1测试装置基本结构 3.2.2测试装置各部件技术要求 3.2.2.1波长为632.8nm的He-Ne激光器. 3.2.2.2经扩束器的光束应充满被测试样的通光面. 3.2.2.3在观测面上的标准干涉条纹畸变（弯曲）应小于1/20入. 3.2.3测试方法 3.2.3.1试样要求，将待测试样制成长方体，其光轴方向垂直于通光面，不垂直度应小于3，两个通光 面细磨平行，平行度应小于1'. 3.2.3.2.贴置玻璃由K9玻璃抛光制成. 其光学均匀性为△n时，应取4舍，则有 m 图2 图3 图4 如图5所示，若干涉条纹一头宽，一头窄，且条纹不直时，需要计算弯曲量△m和折射率梯度△m， 则 △m= LL2 2 m LL 2 如图6所示，若干涉条纹疏密不同，且有局部弯曲时，这说明既有局部折射率偏差，又有折射率梯度 分布.这时需要计算弯曲量△m和折射率梯度△m2，则 m= LL 2 m LL 图5 图6
GB/T 14077-93 3.2.4测试报告 3.2.4.1报告内容应包括：送样单位、测量时间、测试波长、毛坏尺寸、通光厚度、晶体生长单位或矿点、 操作者以及光学均匀性数据（有效数字取1位）或照片、仪器型号及生产厂家. 3.2.4.2不确定度 =√ 式中：8-测量系统的A类误差； 62一一探测系统的B类误差. 4偏振器件的光学参数测试 本标准定义的偏振器件测试方法，主要适用冰州石等晶体制成的偏振棱镜.其他偏振器件的主透射 比和消光比的测试也可以参照本标准进行. 4.1消光比 偏振器件的消光比是指在平面偏振光入射时，其主透射比的最小值（T）与其最大值（T》)之比，以 p表示： f" 4.1.1消光比测试装置 如图7所示测试装置由激光器、扩束与准直系统、可变...
GB/T 14077-1993 双折射晶体和偏振器件测试规范.pdf
