ICS 17.040.30 J42 中华人民共和国国家标准 GB/T22092-2008 电子数显测微头和深度千分尺 Fixed micrometer and depth micrometer with electronic digital display 2008-06-25发布 2009-01-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 发布
GB/T 22092-2008 前言 本标准的附录A为资料性附录. 本标准由中国机械工业联合会提出. 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口. 本标准负贵起草单位：苏州麦克龙测量技术有限公司. 本标准参加起草单位：成都工具研究所. 本标准主要起草人：黄晓宾、张洪玲、姜志刚.
GB/T 22092-2008 电子数显测微头和深度千分尺 1范围 本标准规定了电子数显测微头和深度千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验 方法、标志与包装等， 本标准适用于分辨力高于或等于0.001mm，量程小于或等于30mm的电子数显测微头和深度千 分尺，量程等于50mm的电子数显测微头和深度千分尺参见附录A. 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用面成为本标准的条款.凡是注日期的引用文件，其随后 的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然面，数励根据本标准达成协议的各方研究 是否使用这些文件的最新版本.凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准. GB/T1216-2004外径千分尺 GB/T2423.3-2006电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验 (IEC 60068-2-78 2001 IDT) GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化 (IEC 60068-2-14 :1984 IDT) GB4208-2008外壳防护等级（IP代码） GB/T17163几何量测量器具术语基本术语 GB/T17164几何量测量器具术语产品术语 GB/T17626.2-2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验（IEC61000-4-2：2001， IDT) GB/T17626.3-2006电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验（IEC61000-4- 3;2002 IDT) 3术语和定义 GB/T17163和GB/T17164中确立的以及下列术语和定义适用于本标准. 3. 1 电子数显千分尺数显装置electronic digital indicatingdevicesformicrometer 利用角度传感器、电子和数字显示技术，计算并显示电子数显千分尺的螺旋副位移的装置.以下简 称“电子数显装置”. 3. 2 最大允许误差（MPE）maximum permissible error 由技术规范、规则等对电子数显测微头和深度千分尺规定的误差极限值. 3. 3 浮动零位floatingzero 在测量范围内任意位置设定零位，
GB/T22092-2008 4型式与基本参数 4.1型式 电子数显测微头的型式见图1所示；电子数显深度千分尺的型式见图2所示.图示仅供图解说明， 不表示详细结构. 测量面 测徽螺杆 安装部位 领紧装置 电子数装置 分凭 测力装置 000 CHINA OF 电子 数显测微头的型式示意图 测量面 PRESS 电子数是装证 分均 测力装置 an STAND) 电子数登课度千分尺的型式示意 4.2基本参数 4.2.1电子数显测微头和深度千分尺测微螺杆的娜期宜为0.5mm或1mm， 4.2.2电子数显测微头和深度千分尺的量程宜为25mm或30mm， 4.2.3电子数显测微头安装部位的直径宜为912h6. 4.2.4电子数显深度千分尺的测量范围的下限宜为0或25mm的整数倍. 5要求 5.1外观 5.1.1电子数显测微头和深度千分尺表面不应有影响外观和使用性能的裂痕、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺 等缺陷. 5.1.2电子数显测微头和深度千分尺表面的镀、涂层不应有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷. 2
GB/T 22092-2008 5.1.3电子数显装置的数字显示屏应透明、清洁，无划痕、气泡等影响读数的缺陷. 5.2材料 5.2.1底板应选择合金工具钢、不锈钢或其他性能类似的材料制造， 5.2.2测微螺杆和测量杆应选择合金工具钢、不锈钢或其他性能类似的材料制造；测量面宜镶硬质合 金或为其他耐磨材料. 5.3相互作用 5.3.1测微螺杆和螺母之间在全量程范围内应充分暗合，配合良好，不应出现卡滞和明显审动. 5.4测力装置 电子数显测微头和深度千 济尺宜具有测力装置通过测力装置作用到测量面的测量力应在4N~ 10N之间，测量力...
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