JJF 1254-2010 数显测高仪校准规范.pdf

JJF 中华人民共和国国家计量技术规范 JJF1254-2010 数显测高仪校准规范 Calibration Specification for HeightMeasuringInstrument withDigital Display 2010-05-11发布 2010-11-11实施 国家质量监督检验检疫总局发布
JJF1254-2010 数显测高仪校准规范 Calibration Specification for JJF1254-2010 HeightMeasuringInstrument 代替JJG929-1998 withDigital Display 本规范经国家质量监督检验检疫总局于2010年5月11日批准，并自 2010年11月11日起施行. 归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会 主要起草单位：中国科学院光电技术研究所 参加起草单位：中国测试技术研究院 本规范由全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释
JF1254-2010 本规范主要起草人： 匡龙（中国科学院光电技术研究所） 耿丽红（中国科学院光电技术研究所） 曹学东（中国科学院光电技术研究所） 参加起草人： 冉庆（中国测试技术研究院）
JJF 1254-2010 目录 1 范围 (1) 2 引用文献 (1） 3概述 (1) 4计量特性 （2） 4.1测量力 （2） 4.2 垂直度 （2） 4.3示值变动性 （2） 4.4示值误差 （2） 5校准条件 （2） 5.1环境条件 （2） 5.2测量标准器及其他设备 （3） 6校准项目和校准方法 （3） 6.1测量力 （3） 6.2垂直度 （3） 6.3 示值变动性 （4) 6.4示值误差 （4) 7校准结果表达 （4） 8复校时间间隔 （4) 附录A数显测高仪示值误差测量结果不确定度评定 （5） 附录B校准证书内容 (8）
JJF1254-2010 数显测高仪校准规范 1范围 本规范适用于分辨力为0.1μm、0.2μm、0.5pm和1pm，量程0mm至1000mm 的数显测高仪的校准. 2引用文献 本规范引用下列文献： JF1001-1998通用计量术语及定义 JJF1094-2002测量仪器特性评定 JF1130-2005几何量测量设备校准中的不确定度评定指南 GB/T22094-2008电子数显测高仪 使用本规范时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本. 3概述 数显测高仪是基于精密机械、现代传感技术和电子技术的立式单坐标数字化几何量 测量仪器，用来测量平行平面之间距离、孔和轴直径、中心距以及相关形位误差等.其 外形结构见图1. 图1数显测高仪外形结构示意图 1-立柱：2-控制与显示器：3-测量滑座：4-测头：5-底座...