JJG 77-2006 干涉显微镜检定规程.pdf

JJG 中华人民共和国国家计量检定规程 JG 77-2006 干涉显微镜 Interference Microscopes 2006-05-23发布 2006-11-23实施 国家质量监督检验检疫总局发布
JJG 77-2006 干涉显微镜检定规程 JJG 77-2006 VerificationRegulationof 代替JJG77-1983 Interference Microscopes 本规程经国家质量监督检验检疫总局2006年5月23日批准，并自 2006年11月23日起施行. 归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会 起草单位：中国计量科学研究院 本规程委托全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释
JJG 77-2006 本规程主要起草人： 杜华 （中国计量科学研究院） 高思田 （中国计量科学研究院） 参加起草人： 赵有祥 （中国计量科学研究院） 朱小平 （中国计量科学研究院）
JJG 77-2006 目 1范围 (1) 2引用文献 (1) 3概述 (1) 4计量性能要求. (3) 4.1干涉滤光片的特性 (3) 4.2 测微鼓轮微分筒刻线锥面的内棱边与固定套管刻线面之间的距离.. .（3） 4.3 测微目镜十字线分划板的指标线与毫米分划板刻线的相对位置 (3) 4.4 测微目镜测微鼓轮刻线与毫米分划板刻线的相符性 (3) 4.5 测微目镜的示值误差 (3) 4.6 光学系统成像质量 (3) 4.7 工作台与主光轴的相互位置.. （4) 4.8 辅助成像装置的特性 (4) 4.9 仪器的示值误差 (4) 5 通用技术要求 (4) 6计量器具控制 (5) 6.1 检定条件 (5) 6.2 检定项目.. (6) 6.3 检定方法 (6) 6.4 检定结果的处理 (10) 6.5检定周期.. (10) 附录A干涉显微镜示值误差检定结果的不确定度评定 (11) 附录B检定证书和检定结果通知书（内页）格式 (16)
JJG 77-2006 干涉显微镜检定规程 1范围 本规程适用于双光束干涉显微镜的首次检定、后续检定和使用中检验. 2引用文献 本规程引用下列文献： JJF1001一1998通用计量术语及定义 JJF10591999测量不确定度评定与表示 JJF1094-2002测量仪器特性评定技术规范 JJG812一1993干涉滤光片检定规程 使用本规程时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本. 3概述 干涉显微镜由干涉和显微系统组成，利用光波干涉原理来测量表面粗糙度参数.它 是以范围为（530～600）nm的光波波长为标尺，将被测表面与标准光学镜面相比较， 再经显微系统高倍放大后，来观察和测量被测表面的微观几何形状特性.双光束干涉显 微镜主要用于表面粗糙度评定参数R.的测量.该仪器可用来测量精密加工零件的表面 如平面、圆柱面等外表面，也可用来测量零件表面刻线、镀层等深度.目前常用的仪器 外形如图1和图2所示. 1一调焦鼓轮；2一遮光屏；3干涉带宽度、方向调节螺钉；4一参考镜微调螺丝； 5，6一工作台纵横向移动千分尺；7一工作台；8一光源；9一可换滤光片； 10-光阑；11一测微目镜；12-测微鼓轮；13一照相机或监视器装置 图1常用干涉显微镜外形图（一）...